[实用新型]一种二维位移测试装置

权利要求书

1.一种二维位移测试装置，其特征在于，包括光电传感器模块，光纤式控制模块，单片机模块，数据显示模块；

光电传感器模块，该模块测量二维位移测试装置的位移的变化信息，并将该位移的变化信息通过一定的数据格式发送给光纤式控制模块；

光纤式控制模块，该模块接收由光电传感器模块发送的位移数据，并将接收到的位移数据进行格式转换，然后将经格式转换后的位移数据发送到单片机模块；

单片机模块，该模块接收由光纤式控制模块发送来的位移数据，并对接收到的位移数据进行累加处理，将该累加后的位移数据转换为二维坐标数据，然后将该二维坐标数据发送到数据显示模块；

数据显示模块，该模块接收由单片机模块发送来的数据并将数据通过显示装置显示出来。

2.根据权利要求1所述的二维位移测试装置，其特征在于，所述光电传感器模块包括发光二极管、光学透镜、电路板、光感应芯片及外壳，所述电路板通过螺钉与外壳固定相连并处于外壳内部，在电路板的中间部分开有一通孔，在电路板上通孔的正下方的外壳上也开有一通孔，所述光感应芯片具有一感光眼，光感应芯片焊接在电路板上且其感光眼部分位于电路板通孔的正上方，所述发光二极管焊接在电路板上，且发光二极管位于电路板通孔的边缘并与光感应芯片处于直接相对的位置，在电路板的通孔与外壳的通孔之间固定安装有一光学透镜，所述光学透镜通过其两端的平板安装部分与外壳固定相连，在光学透镜的中间部分具有一倒锥形的凸透镜和一具有空腔的棱镜，所述凸透镜部分位于光感应芯片感光眼的正下方，所述棱镜部分紧邻凸透镜部分，该棱镜具有一空腔，该空腔具有上、下两个相互平行的斜面，所述上、下斜面可将发光二极管发出的光反射到光感应芯片感光眼下方的外壳通孔外。

3.根据权利要求2所述的二维位移测试装置，其特征在于，所述光纤式控制模块主要包括一光纤式控制芯片，该芯片接受由光感应芯片传出的数据，并将接受到的数据的格式转换为PS/2，然后将PS/2格式的数据发送到单片机模块。

4.根据权利要求3所述的二维位移测试装置，其特征在于，所述单片机模块主要包括一单片机，该单片机接受由光纤式控制模块发送的PS/2格式数据，并将该PS/2格式数据进行处理二维成坐标值后传送到数据显示模块。

5.根 据权利要求4所述的二维位移测试装置，其特征在于，所述数据显示模块主要包括数码管及其驱动电路，所述驱动电路接受由单片机模块传送的数据并将接受到的数据通过驱动所述数码管显示出来。