[实用新型]密码锁寿命测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试仪器技术领域，具体讲是一种密码锁寿命测试仪。

背景技术

现有的密码锁的执行机构普遍使用电磁阀与其他机械结构连接来实现，为了保证密码锁的质量，密码锁的执行机构需要进行寿命测试。目前，所述寿命测试均为人工操作方式，即由多人轮流对密码锁的电磁阀进行上电和放电工作，同时记录操作次数。所述的人工操作方式有以下显著缺点：1、由于寿命测试需要对电磁阀进行上电、放电操作，其操作次数多达几万次，甚至十几万次，劳动强度高，耗时长；2、容易受人为因素影响，即对电磁阀进行上电、放电操作的时间间隔无法准确控制，导致测试结果不准，人工记录操作次数的方式增加了出现错误的概率，使测试结果的误差被放大。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是，提供一种测试效率高、自动化程度高、测试准确性高的密码锁寿命测试仪。

本实用新型的技术方案是，本实用新型密码锁寿命测试仪，它由电源模块、控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源模块分别与控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接；所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接。

采用上述结构后，本实用新型与现有技术相比，具有以下优点：所述电磁阀驱动模块与电磁阀电连接，当工人通过制信号输入模块设定完测试次数等相关测试数据后，所述电磁阀驱动模块在中央微处理模块的控制下，能够自动地对电磁阀进行上电和放电的操作，而且上电和放电的操作的时间间隔能够精确控制并自动记录操作次数，无需人工参与，通过状态提示模块能够将测试情况及时反馈给测试人员，并能对测试所得到的数据进行相关处理。综合上述，本实用新型密码锁寿命测试仪的测试效率高、自动化程度高、测试准确性高。

作为改进，所述中央微处理模块为芯片M37546及其外围电路，该芯片M37546性价比高，稳定可靠，更有利于本实用新型密码锁寿命测试仪性能的提高。

作为进一步改进，所述电磁阀通断检测模块至少由一个微动开关组成，每个微动开关对应一个电磁阀，所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接是指所述微动开关还与电磁阀的阀芯的活动端的端部相抵；所述中央微处理模块与电磁阀通断检测模块电连接是指所述中央微处理模块与微动开关电连接；这样，直接通过微动开关来检测电磁阀的阀芯的运动来确定电磁阀的上电和放电的状态，能够使测试快速准确、可靠，而且这种检测方式结构简单、成本低，更有利于本实用新型密码锁寿命测试仪性能的提高。

附图说明

图1是本实用新型密码锁寿命测试仪的电路原理框图。

图2是控制信号输入模块的电路原理图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

本实用新型密码锁寿命测试仪由电源模块、控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块组成；所述电源模块分别与控制信号输入模块、中央微处理模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述中央微处理模块还分别与控制信号输入模块、电磁阀驱动模块、电磁阀通断检测模块及状态提示模块电连接；所述电磁阀驱动模块还与电磁阀电连接；所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接。如图1所示。

所述电源模块为现有技术常用的由交流电源变压得到的直流稳压电源。

所述控制信号输入模块为现有技术常用的模拟量输入电路，如图2所示，该模拟量输入电路共设有5个摁键，公用一个模拟信号输入端，该模拟信号输入端与中央微处理模块电连接。

所述中央微处理模块为芯片M37546及其外围电路。

所述电磁阀驱动模块为芯片ULN2003A。

所述电磁阀通断检测模块至少由一个微动开关组成，每个微动开关对应一个电磁阀，所述电磁阀通断检测模块还与电磁阀连接是指所述微动开关还与电磁阀的阀芯的活动端的端部相抵；所述中央微处理模块与电磁阀通断检测模块电连接是指所述中央微处理模块与微动开关电连接。

所述状态提示模块由一个扬声器和三个双八数码管组成；所述扬声器与芯片ULN2003A电连接；所述中央微处理模块与状态提示模块电连接是指所述中央微处理模块与三个双八数码管电连接。