[发明专利]触控面板和触控显示装置

权利要求书

1.一种触控面板，其包括：一第一电极层、一电介质层和一第二电极层，其中所述电介质层设置在所述第一电极层和第二电极层之间，其特征在于：所述电介质层包括高分子分散液晶薄膜。

2.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于：所述高分子分散液晶薄膜的介电常数随着其厚度的减小而增大。

3.如权利要求1所述的触控面板，其特征在于：所述高分子分散液晶薄膜包括多个液晶微滴，所述液晶微滴分散设置在高分子材料内部，且所述高分子材料用于对所述液晶微滴内部的液晶分子进行垂直配向。

4.如权利要求2所述的触控面板，其特征在于：所述液晶分子的排列方式在所述高分子分散液晶薄膜受外力作用时可发生改变。

5.一种触控显示装置，其包括一触控面板和一检测电路，所述触控面板包括一第一电极层、一电介质层和一第二电极层，其中所述电介质层设置在所述第一电极层和第二电极层之间，其特征在于：所述电介质层包括高分子分散液晶材料，所述检测电路连接到所述第一电极层和第二电极层之一，且其用于检测触控位置的三维坐标。

6.如权利要求5所述的触控显示装置，其特征在于：所述电介质层的介电常数随着其厚度的减小而增大。

7.如权利要求5所述的触控显示装置，其特征在于：所述高分子分散液晶材料包括多个液晶微滴，所述液晶微滴分散设置在高分子材料内部，所述高分子材料用于对所述液晶微滴内部的液晶分子进行垂直配向。

8.如权利要求5至7中任一项所述的触控显示装置，其特征在于：所述第一电极层包括多条第一电极线，所述第二电极层包括多条第二电极线，所述第一电极线和所述第二电极线之间包括多个触控检测点，所述检测电路根据所述触控检测点的电容确定触控位置的三维坐标。

9.如权利要求8所述的触控显示装置，其特征在于：所述检测电路通过检测出在所述触控面板被施加触控动作前后电容值变化最大的触控检测点，确定所述触控位置的X坐标和Y坐标。

10.如权利要求9所述的触控显示装置，其特征在于：述检测电路根据所述电容值变化最大的触控检测点在所述触控面板被施加触控动作前后的具体电容变化量确定所述触控位置的Z坐标。