[发明专利]双空时发射分集模式的接收方法及设备有效
| 申请号: | 200910224816.1 | 申请日: | 2009-11-24 |
| 公开(公告)号: | CN102075299A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
| 发明(设计)人: | 余荣道 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
| 主分类号: | H04L1/06 | 分类号: | H04L1/06;H04B7/04;H04L25/03 |
| 代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
| 地址: | 518129 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 双空时 发射 分集 模式 接收 方法 设备 | ||
1.一种双空时发射分集D-STTD模式的接收方法,其特征在于,包括:
根据D-STTD模式下等效信道模型中的信道信息获取检测参数以及等效信道参数;
接收D-STTD模式下的接收信号;
根据所述等效信道参数与所述接收信号获取发射端的发射信号;
根据所述检测参数确定所述发射信号中的检测信号和解析信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取检测参数以及等效信道参数包括:
获取第一检测参数、第二检测参数以及适合从迫零结合串行干扰消除SIC的接收方法中获取发射信号的迫零等效信道参数;或者
获取第一检测参数、第二检测参数以及适合从线性最小均方误差结合SIC的接收方法中获取发射信号的均方误差等效信道参数。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述根据所述检测参数确定所述发射信号中的检测信号和解析信号包括:
判断所述第一检测参数是否大于所述第二检测参数;
如果判定所述第一检测参数大于所述第二检测参数;则将对应第一检测参数的信号作为检测信号,从所述发射信号中将所述对应第一检测参数的检测信号检测出来,并将对应第二检测参数的信号作为解析信号;
如果判定所述第一检测参数小于所述第二检测参数;则将对应第二检测参数的信号作为检测信号,从所述发射信号中将所述对应第二检测参数的检测信号检测出来,并将对应第一检测参数的信号作为解析信号。
4.根据权利要求1至3中任意一项所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
消除检测信号对解析信号的干扰;
根据空时分组码解析消除干扰后的解析信号。
5.一种接收端,其特征在于,包括:
参数获取单元,用于根据D-STTD模式下等效信道模型中的信道信息获取检测参数以及等效信道参数;
接收单元,用于接收D-STTD模式下的接收信号;
信号获取单元,用于根据所述参数获取单元获取的等效信道参数与所述接收单元接收到的接收信号获取发射端的发射信号;
确定单元,用于根据所述参数获取单元获取的检测参数确定所述信号获取单元获取到的发射信号中的检测信号和解析信号。
6.根据权利要求5所述的接收端,其特征在于,所述参数获取单元包括如下中的至少一项:
迫零模块,用于根据D-STTD模式中与信道对应的等效信道模型获取第一检测参数、第二检测参数以及适合从迫零结合SIC的接收方法中获取发射信号的迫零等效信道参数;
均方误差模块,用于根据D-STTD模式中与信道对应的等效信道模型从所述接收信号中获取第一检测参数、第二检测参数以及适合从线性最小均方误差结合SIC的接收方法中获取发射信号的均方误差等效信道参数。
7.根据权利要求6所述的接收端,其特征在于,所述确定单元包括:
判断模块,用于判断所述第一检测参数是否大于所述第二检测参数;
检测模块,用于当判断模块判定所述第一检测参数大于所述第二检测参数时,将对应第一检测参数的信号作为检测信号,从所述发射信号中将所述对应第一检测参数的检测信号检测出来,并将对应第二检测参数的信号作为解析信号;当判断模块判定所述第一检测参数小于所述第二检测参数时,将对应第二检测参数的信号作为检测信号,从所述发射信号中将所述对应第二检测参数的检测信号检测出来,并将对应第一检测参数的信号作为解析信号。
8.根据权利要求5至7中任意一项所述的接收端,其特征在于,该接收端还包括:
干扰消除单元,用于消除检测信号对解析信号的干扰;
解析单元,用于根据空时分组码解析消除干扰后的解析信号。
9.一种双空时发射分集D-STTD模式的接收方法,其特征在于,包括:
根据D-STTD模式下等效信道模型中的信道信息获取对角化参数;
通过根据所述对角化参数配置的线性滤波器接收D-STTD模式下的接收信号,以消除所述接收信号中干扰。
10.根据权利要求9所述的方法,其特征在于,该方法还包括:
根据空时分组码解析消除干扰后的接收信号从而获取发射端的发射信号。
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