[发明专利]半导体薄膜的形成方法以及电子设备的制造方法无效
| 申请号: | 200910176186.5 | 申请日: | 2009-09-24 |
| 公开(公告)号: | CN101685845A | 公开(公告)日: | 2010-03-31 |
| 发明(设计)人: | 平田晋太郎;保原大介 | 申请(专利权)人: | 索尼株式会社 |
| 主分类号: | H01L51/00 | 分类号: | H01L51/00;H01L51/40;H01L51/48;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余 刚;吴孟秋 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 薄膜 形成 方法 以及 电子设备 制造 | ||
1.一种半导体薄膜的形成方法,包括以下步骤:
(a)在基板上涂敷无机半导体微粒分散溶液并对涂层进 行干燥以形成半导体微粒层,所述基板的一部分进行了表面处 理以具有与所述无机半导体微粒的亲和性,并且所述无机半导 体微粒的表面上形成有保护层,所述保护层的材料是具有能结 合到所述无机半导体微粒的官能团的分子;以及
(b)将所述半导体微粒层浸入半导体薄膜形成溶液中以 形成半导体薄膜,其中
所述半导体薄膜形成溶液包括含有二硫醇化合物的乙 醇,并且
经过步骤(a),所述基板上存在所述无机半导体微粒的比 率为80%以上;并且经过步骤(b),所述基板上存在所述半 导体薄膜的比率为95%以上。
2.根据权利要求1所述的半导体薄膜的形成方法,其中,所述无 机半导体微粒由从由硒化铅、硒化锡、硒化锗、硒化镉、硒化 锌、硫化铅、硫化锡、硫化锗、硫化镉、硫化锌、碲化铅、碲 化锡、碲化锗、碲化镉和碲化锌构成的组中选出的至少一种材 料构成。
3.根据权利要求1所述的半导体薄膜的形成方法,其中,所述二 硫醇化合物是烷烃二硫醇、苯二硫醇或噻吩二硫醇。
4.一种电子设备的制造方法,所述电子设备包括(A)控制电极、 (B)第一电极和第二电极、以及(C)由半导体薄膜构成并 设置在所述第一电极和所述第二电极之间以通过绝缘层面对 所述控制电极的活性层,
其中,所述半导体薄膜通过以下步骤形成:
(a)在基板上涂敷无机半导体微粒分散溶液以形成涂层 并对所述涂层进行干燥以形成半导体微粒层,所述基板的一部 分进行了表面处理以具有与所述无机半导体微粒的亲和性,并 且所述无机半导体微粒的表面上形成有保护层,所述保护层的 材料是具有能结合到所述无机半导体微粒的官能团的分子;以 及
(b)将所述半导体微粒层浸入半导体薄膜形成溶液中, 其中
所述半导体薄膜形成溶液包括含有二硫醇化合物的乙 醇,并且
经过步骤(a),所述基板上存在所述无机半导体微粒的比 率为80%以上;并且经过步骤(b),所述基板上存在所述半 导体薄膜的比率为95%以上。
5.根据权利要求4所述的电子设备的制造方法,其中,所述电子 设备包括场效应晶体管,其中,所述控制电极对应于栅电极, 第一和第二电极对应于源/漏电极,所述绝缘层对应于栅极绝 缘层,而所述活性层对应于沟道形成区域。
6.一种电子设备的制造方法,所述电子设备包括(A)第一电极 和第二电极、以及(B)由半导体薄膜构成并设置在所述第一 电极和所述第二电极之间的活性层,
其中,所述半导体薄膜通过以下步骤形成:
(a)在基板上涂敷无机半导体微粒分散溶液以形成涂层 并对所述涂层进行干燥以形成半导体微粒层,所述基板的一部 分进行了表面处理以具有与所述无机半导体微粒的亲和性,并 且所述无机半导体微粒的表面上形成有保护层,所述保护层的 材料是具有能结合到所述无机半导体微粒的官能团的分子;以 及
(b)将所述半导体微粒层浸入半导体薄膜形成溶液中, 其中
所述半导体薄膜形成溶液包括含有二硫醇化合物的乙 醇,并且
经过步骤(a),所述基板上存在所述无机半导体微粒的比 率为80%以上;并且经过步骤(b),所述基板上存在所述半 导体薄膜的比率为95%以上。
7.根据权利要求4或6所述的电子设备的制造方法,其中,所述 无机半导体微粒由从由硒化铅、硒化锡、硒化锗、硒化镉、硒 化锌、硫化铅、硫化锡、硫化锗、硫化镉、硫化锌、碲化铅、 碲化锡、碲化锗、碲化镉和碲化锌构成的组中选出的至少一种 材料构成。
8.根据权利要求4或6所述的电子设备的制造方法,其中,所述 二硫醇化合物是烷烃二硫醇、苯二硫醇或噻吩二硫醇。
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