[发明专利]两端子多通道ESD器件及其方法有效

专利信息
申请号: 200910173120.0 申请日: 2009-09-07
公开(公告)号: CN101728390A 公开(公告)日: 2010-06-09
发明(设计)人: A·萨利赫;刘明焦;T·肯纳 申请(专利权)人: 半导体元件工业有限责任公司
主分类号: H01L27/082 分类号: H01L27/082;H01L21/8222;H01L23/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 美国亚*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 端子 通道 esd 器件 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种ESD器件,包括:

具有第一传导类型并具有第一掺杂浓度的半导体基底,所述半导 体基底具有第一表面和第二表面;

在所述半导体基底的所述第一表面上的第二传导类型的第一半 导体层,所述第一半导体层具有远离所述半导体基底的所述第一表面 的第一表面并具有第二掺杂浓度;

在所述第一半导体层的第一表面上的第一传导类型的第二半导 体层,所述第二半导体层具有远离所述第一半导体层的所述第一表面 的第一表面并具有第三掺杂浓度;

在所述第二半导体层的第一表面上的第二传导类型的第三半导 体层,所述第三半导体层具有远离所述第二半导体层的所述第一表面 的第一表面并具有第四掺杂浓度;

位于所述第三半导体层的第一部分和所述第二半导体层的第一 表面之间的第二传导类型的第一半导体区,所述第一半导体区形成具 有所述第二半导体层的掺杂物的齐纳二极管;

形成为第一多连通域的第一隔离槽,所述第一多连通域具有周界 并从所述第三半导体层的第一表面延伸到所述半导体基底中,其中所 述周界至少围绕所述第三半导体层的所述第一部分;以及

在所述第三半导体层的所述第一部分中形成的多个二极管。

2.如权利要求1所述的ESD器件,进一步包括从所述半导体基 底内至少延伸到所述第三半导体层中的多个导体,其中所述多个导体 在所述第一隔离槽的周界的外部。

3.如权利要求1所述的ESD器件,其中所述多个二极管包括第 一P-N二极管,所述第一P-N二极管在所述第三半导体层的第一表面 上形成为第一掺杂区并上覆于所述第一半导体区的一部分;以及

第二P-N二极管,其在所述第三半导体层和所述第二半导体层 之间的界面处形成。

4.如权利要求1所述的ESD器件,其中所述ESD器件没有位 于所述多个二极管和所述第一半导体区之间的第一传导类型的掺杂 区。

5.一种形成ESD器件的方法,包括:

提供具有第一表面和第二表面的半导体基底;

在所述半导体基底的第一表面上形成隔离层,所述隔离层具有远 离所述半导体基底的所述第一表面的第一表面;

形成位于所述隔离层的第一表面上并具有远离所述半导体基底 的所述第一表面的第一表面的导体层,其中所述隔离层禁止电流从所 述导体层流入所述半导体基底;

在所述导体层的第一表面上形成第一传导类型的半导体层,所述 半导体层具有远离所述导体层的所述第一表面的第一表面,其中所述 导体层将电流从所述半导体层横向传导通过所述导体层;

形成位于所述半导体层的第一部分和所述导体层的所述第一表 面之间的第一半导体区;

形成从所述半导体层的所述第一表面延伸到所述半导体基底中 的第一阻挡结构,其中所述阻挡结构的周界至少包围所述半导体层的 第一部分;

在所述半导体层的第一部分中形成多个二极管,其中所述多个二 极管的一部分上覆于所述第一半导体区;以及

形成从所述半导体层延伸到所述半导体基底中的导体以提供与 所述半导体基底的电连接,其中所述导体在所述第一阻挡结构的周界 的外部。

6.如权利要求5所述的方法,其中形成第一阻挡结构的步骤包 括:形成隔离槽且在所述隔离槽的侧壁上而不是在所述隔离槽的底部 上具有绝缘体,以及用导体填充所述隔离槽,其中所述隔离槽的周界 形成为围绕所述半导体层的第一部分的多连通域。

7.如权利要求5所述的方法,其中形成从所述半导体层延伸到 所述半导体基底中的导体的步骤包括:形成从所述半导体层的第一表 面延伸到所述半导体基底中的多个开口,在所述多个开口的侧壁上而 不在所述多个开口的底部上形成绝缘体,以及用导体填充所述多个开 口。

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