[发明专利]磁盘阵列测试方法无效
| 申请号： | 200910166353.8 | 申请日： | 2009-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN101996112A | 公开（公告）日： | 2011-03-30 |
| 发明（设计）人： | 吴明城 | 申请（专利权）人： | 英业达股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22;G06F9/445 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 陈红 |
| 地址： | 中国台湾台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 磁盘阵列 测试 方法 | ||
1.一种磁盘阵列测试方法，其特征在于，用于一计算机系统中的一磁盘阵列，该磁盘阵列包含多个硬盘，该磁盘阵列测试方法包含下列步骤：
读取该计算机系统的一缓存器的一硬盘参数，其中该硬盘参数与该多个硬盘的一数目相关；
根据该硬盘参数，设定该计算机系统的一系统芯片组的一地址映像缓存器，以记录该多个硬盘的该数目；
启始该磁盘阵列的一选项只读存储器，其中该选项只读存储器包含一测试程序代码；
根据该地址映像缓存器记录的该数目设定该测试程序代码中的一变量；
执行该测试程序代码的一第一测试区块；以及
根据该变量判断该多个硬盘的该数目，自该测试程序代码的多个第二测试区块中，选择其中之一执行。
2.根据权利要求1所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，该缓存器为该系统芯片组的一互补式金属氧化物半导体晶体管缓存器。
3.根据权利要求1所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，该系统芯片组为一南桥芯片。
4.根据权利要求1所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，设定该系统芯片组的该地址映像缓存器的步骤中，是在设定该地址映像缓存器的一位。
5.根据权利要求1所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，该变量是储存于一延伸基本输入输出系统数据区域。
6.根据权利要求1所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，各该多个第二测试区块包含多个测试函数。
7.根据权利要求6所述的磁盘阵列测试方法，其特征在于，被选择的该第二测试区块所包含的该多个测试函数，是用以测试包含对应该数目的该多个硬盘的该磁盘阵列。
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