[发明专利]电容值测量电路与方法

权利要求书

1.一种电容值测量方法，用于测量一待测电容的一电容值，包括：

预充电一储存电容；

对该待测电容与该储存电容进行一电荷转移；

根据该储存电容的一电压与一参考电压间的关系，将该储存电容放电及充电；以及

根据该储存电容的该电压，测量该待测电容的该电容值。

2.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，预充电该储存电容的该步骤包括：

预充电该储存电容至该参考电压。

3.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，将该储存电容放电与充电的该步骤包括：

当该储存电容的该电压高于该参考电压时，将该储存电容放电；以及

当该储存电容的该电压低于该参考电压时，将该储存电容充电。

4.根据权利要求3所述的电容值测量方法，其特征在于，该储存电容的一放电时间为固定。

5.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，将该储存电容放电与充电的该步骤包括：

当该储存电容的该电压高于一另一参考电压时，将该储存电容放电，其中该另一参考电压高于该参考电压；以及

当该储存电容的该电压低于该参考电压时，将该储存电容充电；

其中，该储存电容的一放电时间为固定。

6.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，将该储存电容放电与充电的该步骤包括：

当该储存电容的该电压高于该参考电压时，将该储存电容放电；以及

当该储存电容的该电压低于该参考电压时，将该储存电容充电；

该储存电容的一充电时间为固定。

7.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，测量该待测电容的该电容值的该步骤包括：

累加在一既定时间区间内的该储存电容的该电压与一参考线之间的至少一交叉点的次数，以反应该待测电容的该电容值。

8.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，测量该待测电容的该电容值的该步骤包括：

积分在一既定时间区间内的该储存电容的该电压的一充电波形与一参考线所围出的一面积，以反应该待测电容的该电容值。

9.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，测量该待测电容的该电容值的该步骤包括：

积分在一既定时间区间内的该储存电容的该电压的一放电波形与一参考线所围出的一面积，以反应该待测电容的该电容值。

10.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，测量该待测电容的该电容值的该步骤包括：

积分在一既定时间区间内的该储存电容的该电压的一充放电波形与一参考线所围出的一面积，以反应该待测电容的该电容值。

11.根据权利要求1所述的电容值测量方法，其特征在于，测量该待测电容的该电容值的该步骤包括：

将该储存电容的该电压进行滤波与放大以得到一输出模拟波形，该输出模拟波形的一频率反应该待测电容的该电容值。

12.一种电容值测量电路，用于测量一待测电容的一电容值，包括：

一储存电容；

一开关电路，耦接至该储存电容、一参考电压与一电压源；

一电压检测器，耦接至该储存电容，检测该储存电容的一电压；

一开关控制器，耦接至该电压检测器与该开关电路，该开关控制器控制该开关电路；以及

一电流源，耦接至该开关电路；

其中，在该开关控制器的控制下，通过该开关电路，将该参考电压耦合至该储存电容以预充电该储存电容；

该待测电容耦合至该储存电容与该电压源，以在该待测电容与该储存电容之间进行电荷转移；

根据该储存电容的电压与该参考电压间的关系，决定该电流源将该储存电容放电；以及

根据该储存电容的电压与该参考电压间的关系，决定利用通过电荷转移，使该待测电容对该储存电容充电。

13.根据权利要求12所述的电容值测量电路，其特征在于，该开关电路包括：

一第一开关，选择性耦合该电压源至该待测电容；

一第二开关，选择性耦合该储存电容至该待测电容；

一第三开关，选择性耦合该参考电压至该储存电容；以及

一第四开关，选择性耦合该电流源至该储存电容。