[发明专利]触控面板的定位方法及定位装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种定位装置及定位方法，特别是涉及一种利用多指碰触之间的时间差来进行碰触位置定位的触控面板的定位方法及定位装置。

背景技术

随着技术的日新月异，大多电子装置，例如：笔记型电脑、手机或是可携式多媒体播放器等电子装置，通常配置有触控面板，以取代传统键盘作为新一代的输入介面。触控面板大致可区分为电阻式、电容式、红外线式及超音波式等，其中以电阻式触控面板与电容式触控面板为最常见的产品。电容式触控面板为经由手指或导体材质靠近或碰触触控面板，而使触控面板的电容值产生变化。当触控面板检测到电容值变化时，便可判断出手指或导体材质靠近或碰触的位置，并且执行碰触位置所对应的功能操作。电容式触控面板具有多指触控的特性，可提供人性化地操作，因而逐渐受到市场的青睐。

以自电容式(self capacitance，亦称absolute capacitance)的触控面板而言，其利用轴交错方式(Axis intersect，亦称Profile-based)于导电层上进行菱形状感测器的配置，且每个轴向需要一层导电层。图1A为传统触控面板在两指碰触情况下波峰位置示意图。请参照图1A，以水平及垂直两轴为例，触控面板在检测碰触位置时，会分别扫描对应水平轴及垂直轴的两导电层上的扫描线(如Stage0～Stage11)。以单指碰触(如碰触位置a)而言，触控面板上对应水平轴及垂直轴之两导电层各自有一个扫描线上的感测器因受碰触而产生电容耦合现象，经由检测两导电层所出现的波峰位置(如X1及Y1)，并且将对应不同轴向的波峰位置进行交会，即可定位出碰触位置。

在单指碰触位置的检测上，两轴型式的轴交错式技术能得到确切的碰触位置，且不用经过校准修正即能正确检测出碰触位置。以两指碰触(如碰触位置a及b)来说，碰触位置a及b会在垂直轴及水平轴各自产生两个波峰位置(例如：X1、X2、Y1及Y2)，将两个轴向的波峰位置进行交会则会产生4个交会点(例如：a、b、a’及b’)，其中非属真正碰触位置的两交会点(例如：a’及b’)称之为镜像点(Ghost point)。在此情况下，触控面板会检测出非真正的碰触位置，进而造成操作错误。

美国专利公告号第20080150906号提出一种多轴向碰触感测器的装置，其配置感测器于至少三层对应不同轴向的导电层上，以提高触控面板对碰触位置的辨识率以及消除镜像点。在此专利案中，多轴向碰触感测器装置在检测单指碰触位置时，会将对应不同轴向的三层导电层上所出现之三个波峰位置进行交会，以定位碰触位置。当检测双指碰触位置时，各导电层会检测到两个波峰位置。接着，将此六个波峰位置进行交会，则会出现两个三线交会的交会点，此三线交会的交会点即真正的碰触位置，藉此可检测出双指的碰触位置。然而，在触控面板上每增加对应一个轴向的导电层，便增加了触控面板厚度、重量与硬体成本，相对地也提高了系统运算的负担。

发明内容

本发明提供一种触控面板的定位方法及定位装置，其利用多指碰触之间通常具有时间差的特性，在定位前指所对应的碰触位置后，在前指未结束碰触前进行后指所对应的碰触位置的计算，藉以消除多指碰触时所产生的镜像点并且提高碰触位置定位的准确性。

本发明提出一种触控面板的定位方法，其中触控面板具有多条扫描线。首先，依序地撷取上述扫描线所分别感测的多个电容值。接着，依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测之电容值，判断第一扫描线所感测的电容值是否为第一波峰。当第一扫描线所感测的电容值为第一波峰时，则重新依序地撷取各扫描线所分别感测的电容值，且当撷取完电容值时，则依据第一扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，计算第一碰触位置，并且设定触控面板处于单指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于单指碰触状态时，依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别感测的电容值，判断第二扫描线所感测的电容值是否为第二波峰。当第二扫描线所感测的电容值为第二波峰时，则重新依序地撷取各扫描线所分别感测的电容值，且当撷取完电容值时，则依据第二扫描线及其相邻的扫描线所分别检测的电容值，计算第二碰触位置，并且设定触控面板处于多指碰触状态。

上述的定位方法，在本发明的一实施例中当触控面板处于多指碰触状态时，则检测第一扫描线所感测的电容值是否仍为第一波峰且检测第二扫描线所感测的电容值是否仍为第二波峰。当第一扫描线或第二扫描线所感测的电容值不为第一波峰或第二波峰，则设定触控面板处于单指碰触状态。当第一扫描线及第二扫描线所感测的电容值分别不为第一波峰及第二波峰，则初始化触控面板处于无碰触状态。