[发明专利]一种基于时分双工的收发信机模块及其处理方法

说明书

技术领域

本发明涉及通信领域，尤其涉及一种基于时分双工的收发信机模块及其处理方法。

背景技术

目前，现有收发信机内的收发信机模块在生产或应用过程中均存在需要对其收发通道进行测试的情况，现有对收发信机模块的测试主要是通过外部的测试仪器(如频谱仪、信号源等)完成的。图1所示为基于时分双工(TDD，Time Division Duplex)收发信机模块的结构，是一种双发双收的收发信机模块，包括两条发射通道和两条接收通道，发射通道用于发射输出射频信号，接收通道用于接收其它机器发出的射频信号。对该基于时分双工(TDD，Time Division Duplex)收发信机模块的发射通道的指标测试通过频谱仪进行，对接收通道的指标测试则以信号源作为测试源进行测试。图2所示为利用外部的信号源和频谱仪对该双发双收收发信机模块的收发通道进行测试的示例，在该方案中将包括信号源和频谱仪的测试系统通过耦合器或射频开关与该双发双收收发信机模块连接，该双发双收收发信机模块的收发通道以耦合的形式与信号源和频谱仪连接，测试时可通过射频开关切换不同发射通道到频谱仪完成各发射通道的射频功能和性能指标的测试，对于接收通道可通过射频开关将信号源切换到不同接收通道对各接收通道的性能指标进行测试。

从上述介绍中，发明人发现现有技术至少存在下述问题：

现有的收发信机模块由于不具有进行回馈自身发射通道输出信号作为测试信号的电路结构，无法利用发射通道输出的信号作为测试信号，及无法使发射通道与接收通道配合来得出测试该收发信机模块的发射通道的射频指标或接收通道的性能指标的测试数据，只能通过外部的测试仪器对收发信机模块的发射通道和接收通道进行测试，存在测试成本高及测试效率低的问题。

发明内容

本发明实施例提供一种基于时分双工的收发信机模块及其处理方法，可以解决现有的收发信机模块中不具有回馈信号作为测试信号的电路结构，无法利用自身发射通道与接收通道配合获取测试数据，测试时需要利用外部的测试仪器，导致测试成本高及测试效率低的问题。

本发明实施例提供一种基于时分双工的收发信机模块，包括：

至少一条发射通道电路、至少一条接收通道电路和射频内置自环电路；

所述发射通道电路，用于发射射频信号；

所述接收通道电路，用于接收射频信号；

所述射频内置自环电路，连接在所述发射通道电路与所述接收通道电路之间，作为所述发射通道电路向所述接收通道电路回馈信号的闭环电路，通过所述闭环电路耦合引入所述发射通道电路输出的信号作为测试信号，由所述接收通道电路从测试信号中采集数据，所采集数据用于作为分析得出所述发射通道电路的射频指标或接收通道电路的性能指标的数据。

本发明实施例还提供一种上述基于时分双工的收发信机模块的处理方法，包括：

将发射通道电路输出的信号经射频内置自环电路耦合引入至接收通道电路；

以引入的所述信号作为测试信号，由接收通道电路从测试信号中采集数据，所采集数据作为分析得出所述发射通道电路的射频指标或所述接收通道电路的性能指标的数据。

由上述本发明实施例提供的技术方案可以看出，本发明实施例中通过在收发信机模块中设置射频内置自环电路，使发射通道电路与接收通道电路之间形成闭环电路，通过该射频内置自环电路可以将发射通道电路输出的信号耦合引入至接收通道电路作为测试信号，由接收通道电路从测试信号中采集数据，作为分析处理得到发射通道的射频指标或由接收通道电路对源信号的测试数据。实现了收发信机模块利用射频内置自环电路，将发射通信输出的信号作为测试信号，使发射通道与接收通道相互配合，可方便的利用接收通道获得测试发射通道的射频指标或接收通道的性能指标的测试数据。为进一步分析测试数据得出发射通道的射频指标或接收通道的性能指标提供方便。免去了测试时需要使用外部的测试仪器，降低了收发信机模块的测试成本并提高了测试效率。

附图说明

图1为现有技术提供的收发信机模块的结构框图；

图2为现有技术提供的测试收发信机模块的逻辑框图；

图3为本发明实施例一提供的收发信机模块的结构框图；

图4为本发明实施例二提供的收发信机模块的结构框图；

图5为本发明实施例三提供的收发信机模块的结构框图；

图6为本发明实施例三提供的收发信机模块的发射通道电路自测试示意图；

图7为本发明实施例三提供的收发信机模块的接收通道电路自测试示意图；

图8为本发明实施例四提供的收发信机模块的结构框图；