[发明专利]光头和光盘装置

权利要求书

1.一种光头，其特征在于，包括：

光源；

将从上述光源射出的光分为第一光束和第二光束的分割单元；

将上述第一光束聚光到光信息记录介质上的聚光单元；

使上述第二光束反射的反射单元；

调整上述第一光束或上述第二光束的光路长度的调整单元；

使从上述光信息记录介质反射的上述第一光束和从上述反射单元反射的上述第二光束合波并产生多条由它们的干涉产生的干涉光束的光学系统；

检测所产生的各条干涉光束的检测器；以及

使上述聚光单元和上述反射单元作为一体来改变位置的第一可动部。

2.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

上述调整单元具有多个楔形棱镜、衍射光栅或其组合，并通过使其中一部分改变位置来调整光路长度。

3.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

还包括：通过利用第二可动部使光学元件可动来校正上述第一光束的球面像差的校正光学系统，上述第二可动部安装有作为上述校正光学系统的一部分的第一光学元件和作为上述调整单元的一部分的第二光学元件，通过使它们作为一体而改变位置来进行球面像差的校正和光路长度的调整。

4.根据权利要求1所述的光头，其特征在于，

上述调整单元调整上述第一可动部的倾斜度。

5.一种光盘装置，其特征在于，

包括光头、控制部和信号处理部，其中，

上述光头包括：

光源；

将从上述光源射出的光分为第一光束和第二光束的分割单元；

将上述第一光束聚光到光信息记录介质上的聚光单元；

使上述第二光束反射的反射单元；

调整上述第一光束或上述第二光束的光路长度的调整单元；

使从上述光信息记录介质反射的上述第一光束和从上述反射单元反射的上述第二光束合波并产生多条由它们的干涉产生的干涉光束的光学系统；

检测所产生的各条干涉光束的检测器；以及

使上述聚光单元和上述反射单元作为一体来改变位置的第一可动部，

上述控制部控制上述第一可动部的位置和上述光源的发光状态，

上述信号处理部根据上述检测器的输出信号来生成再现信号。

6.根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

上述光头还包括对上述第一光束的球面像差进行校正的校正光学系统，上述控制部同步控制上述第一可动部的位置和上述校正光学系统。

7.根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

上述调整单元具有多个楔形棱镜、衍射光栅或其组合，并通过使其中一部分改变位置来调整光路长度。

8.根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

还包括：通过利用第二可动部使光学元件可动来校正上述第一光束的球面像差的校正光学系统，上述第二可动部安装有作为上述校正光学系统的一部分的第一光学元件和作为上述调整单元的一部分的第二光学元件，通过使它们作为一体而改变位置来进行球面像差的校正和光路长度的调整。

9.根据权利要求5所述的光盘装置，其特征在于，

上述调整单元调整上述第一可动部的倾斜度。