[发明专利]光盘片缺陷区块判定装置及方法

说明书

技术领域

本发明有关一种缺陷区块判定装置及方法，尤其是关于光驱在可重复烧录光盘片烧录数据时，验证烧录数据是否错误，以判定缺陷区块的装置及方法。

背景技术

光盘片经常受到灰尘、污渍、刮伤、制造质量、材料劣化或烧录质量等因素，导致部分区域的数据记号受损，形成缺陷区块。数据如烧录至缺陷区块，将无法正常读取。光盘片提供缺陷管理机制，登录缺陷区块的地址及备份，以免造成储存数据的损毁。

如图1所示，为中国台湾公告第I302300号专利案先前技术，揭露光盘片缺陷区块判定方法的流程。首先在步骤P1，读取烧录在光盘片的数据记号。进入步骤P2，利用错误校正码(Error Correct Code，简称ECC校正码)，进行数据记号解码。再进入步骤P3，检查是否有解码错误产生？假如未产生解码错误，则进入步骤P4，直接判定为非缺陷区块。假如产生解码错误，则进入步骤P5，利用ECC校正码进行解码错误的校正。接着进入步骤P6，检查是否解码错误校正成功？假如校正成功，则进入步骤P4，判定为非缺陷区块，假如解码错误未校正成功，则进入步骤P7，判定为缺陷区块，由缺陷管理机制登录缺陷区块的地址，并烧录备份。

前述先前技术通过预先判定出缺陷区块的所在，虽可避免数据烧录在缺陷区块。但不管光盘片各区域受损的程度，先前技术对所有产生解码错误的数据区块，一律进行校正，以判定出缺陷区块。由于解码错误的校正需耗费不少时间，将严重降低光驱执行效能。另有中国台湾公开第200638413号专利案的先前技术，揭露根据ECC校正码解码的错误量，判定缺陷区块的方法。利用设定错误量的临限值，将解码错误量低于临限值，直接判定为非缺陷区块。而将解码错误量高于临限值，直接判定为缺陷区块，节省校正时间，以提高光驱效能。

然而，该判定方式的解码错误量临限值，难以精确设定。临限值设太低则造成许多缺陷区块，不仅减少光盘片有效的储存容量，且需重新烧录数据，增长烧录时间。临限值设太高则容易将数据烧录在缺陷区块，而无法读取储存的数据。此外，前述先前技术读取数据区块亦需经ECC校正码解码，才能根据解码错误量判定缺陷区块，不仅同样会增加烧录时间，且ECC校正码解码的错误量，可能是解码格式的错误，并非数据记号读取的错误，无法直接代表缺陷程度。因此，已知光盘片缺陷区块判定方法在判定的过程上，仍有问题亟待解决。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定装置，通过比较单元直接比对再生调制量位信号与烧录前原调制量位信号，产生的错误量，作为判定缺陷区块的基准，以提高烧录效能。

本发明的另一目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定方法，利用未经解码烧录前后调制量位信号的比对，直接获得数据区块缺陷状况，以加速判定缺陷区块。

本发明的再一目的在于提供一种光盘片缺陷区块判定方法，通过将数据区块的错误量分成高、中、低三类，对高错误量，直接判定缺陷区块，低错误量则直接判定为非缺陷区块，而对于中错误量再进行解码校正，并根据其实际解码的结果作为判定，提高判定精确性。

为了达到前述发明的目的，本发明的光盘片缺陷区块判定装置，由处理器接收烧录数据及命令，将烧录数据储存在存储器。将烧录数据经ECC校正码形成编码数字信号，再经调制装置形成原调制量位信号，存回存储器。处理器控制读取头烧录或读取调制量位信号，利用比较单元比对出错误量，根据错误量判定缺陷区块。

本发明的一种光盘片缺陷区块判定方法，首先读取烧录的数据区块，形成再生调制量位信号；比对再生调制量位信号与烧录前原调制量位信号，以不符者计算错误量；检查错误量为低错误量、中错误量或高错误量，低错误量直接判定为非缺陷区块，高错误量直接判定为缺陷区块，对于中错误量则执行解码，解码成功判定为非缺陷区块，解码失败则判定为缺陷区块。

附图说明

图1为先前技术光盘片缺陷区块判定方法的流程图。

图2为本发明光盘片缺陷区块判定装置的方块图。

图3为本发明第一实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程图。

图4为本发明第二实施例光盘片缺陷区块判定方法的流程图。

[主要元件标号说明]

10光驱

11处理器

12存储器

13ECC校正码

14调制装置

15读取头

16比较单元

17编码数字信号

18调制量位信号

19光盘片

具体实施方式