[发明专利]光电路及测量监控器特性的方法

说明书

技术领域

本发明涉及光电路，并且更具体而言，涉及包括信号光水平监控器 (signal light level monitor)的光电路以及监控器特性测量方法。

背景技术

图1中示出了包括光放大器的光电路的一个示例，其是基于例如在日 本专利申请未实审公布No.2002-374023A(此后称作JP2002-374023)中 公开的传统光放大设备的。该光电路宽泛地可以被分为两个部件：放大光 信号的光模块部件103；以及控制光模块部件103的电子控制部件104。

光模块部件103包括：用于将信号光输入光模块部件103的光连接器 51；将信号光从光模块部件103输出的光连接器52；掺铒光纤(EDF)53 和54，其是用于直接光学地放大信号光的介质；用于均衡包括在要从光模 块部件103输出的波分复用(WDM)信号光中的各个通道的信号光功率 的增益均衡器55；用于检测EDF 53和54的每个之前和之后的信号光功率 的光敏二极管(PD)56至59；以及分别将信号光分支到PD 56至59的光 耦合器60至63。

电子控制部件104包括：用于分别转换从PD 56至59输出的电流以输 出数字数据(PD监控值)的转换电路64至67；以及用于根据从转换电路 64至67的每个输入的PD监控值(数字数据)计算所监控的信号光的功率 的处理器68。注意，处理器68具有以下功能：基于PD监控值通过调节 从泵浦(pumping)激光二极管(LD)(未示出)输出的泵浦光来控制针 对信号光的放大因子。由于该功能已为本领域技术人员公知，因此省略对 其的详细描述。

本领域的技术人员已知：在制造光模块的过程中测量从要安装在这样 的光放大设备上的光模块中的PD输出的光电流[μA]量，以便测量1mW信 号光功率的光电流[μA]、转换效率[μA/mW]，由此计算信号光功率与PD 输出电流量之间的相关性(correlation)。

此外，应用这种机制，还可以测量信号光功率与其PD监控值之间的 相关性，该PD监控值是由转换光电流量的转换电路(例如，AD转换器 等)获得的数字数据。基于这种相关性，处理器(例如CPU等)可以根据 相应的PD监控值计算监控信号光的功率。

根据如图1所示的电路结构，对于其输入级处的PD 56和其输出级处 的PD 59，可以直接利用从光连接器51和52输入信号光的测量装备(未 示出)来测量信号光功率，由此可以确定各个监控信号光的功率与从转换 电路64至67的相应一个输出的PD监控值之间的关系表达式。

此外，根据如图1所示的电路结构，对于PD 57和58，监控信号光功 率和其PD监控值之间的关系表达式不能确定，这是因为监控信号光功率 不能直接测量。如果人们希望直接测量监控信号光功率，则可以通过切断 PD输入端处的光波导(紧靠PD之前的光纤)并将光功率仪等连接到该输 入端来执行测量。

根据JP2002-374023，对于PD(57，58)和转换电路(65，66)的组 合，许多指定的光水平被虚构地设置以用于利用到PD的输入光水平和转 换部件的输出值之间的特性等式来计算PD特性值。处理器68根据指定的 光水平和相应的PD特性值来计算比例常数以获得线性函数。但是，这种 获得线性函数的方法在处理器68上施加了很重的处理负荷。

发明内容

本发明的一个目的是提供光电路和监控器特性测量方法，其可以解决 上述问题，并且可以获得不能直接测量信号光的光监控器的信号光水平和 其监控值之间的关系表达式，而不增加处理负荷。