[发明专利]一种时钟检测的方法及装置有效
| 申请号: | 200910087149.7 | 申请日: | 2009-06-10 |
| 公开(公告)号: | CN101582732A | 公开(公告)日: | 2009-11-18 |
| 发明(设计)人: | 徐继超 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号: | H04J3/06 | 分类号: | H04J3/06 |
| 代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人: | 许 静 |
| 地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 时钟 检测 方法 装置 | ||
1.一种时钟检测的方法,其特征在于,包括:
可编程器件对本地定时源生成的源时钟信号进行分频获得参考时钟信号;
所述可编程器件将所述源时钟信号作为计数工作时钟,确定被测时钟信号 在所述参考时钟信号的连续N个高电平的每个高电平期间的上升沿计数值和 高电平计数值,其中,所述N为正整数;
所述可编程器件根据所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电 平计数值与第一预期值的大小关系以及上升沿计数值与第二预期值的大小关 系,确定所述被测时钟信号是否有效;
其中,所述可编程器件根据所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的 高电平计数值与第一预期值的大小关系以及上升沿计数值与第二预期值的大 小关系,确定所述被测时钟信号是否有效,具体为:
所述可编程器件判断所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电 平计数值是否超过所述第一预期值、上升沿计数值是否超过所述第二预期值;
当所述可编程器件判断出所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的 高电平计数值未超过所述第一预期值且上升沿计数值未超过所述第二预期值 时,确定所述被测时钟信号有效;当所述可编程器件判断出所述被测时钟信号 在所述每个高电平期间中的高电平计数值超过所述第一预期值且上升沿计数 值超过所述第二预期值时,确定所述被测时钟信号无效。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述可编程器件判断所述被 测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平计数值是否超过所述第一预期 值、上升沿计数值是否超过所述第二预期值,具体为:
所述可编程器件在所述每个高电平的下降沿,锁存所述被测时钟信号在当 前高电平期间中的高电平计数值和上升沿计数值,之后清零所述被测时钟信号 在当前高电平期间中的高电平计数值和上升沿计数值,并在清零高电平期间判 断所述被测时钟信号在所述当前高电平期间中的高电平计数值是否超过所述 第一预期值、上升沿计数值是否超过所述第二预期值。
3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,还包括:
所述可编程器件确定所述被测时钟信号的占空比为:所述被测时钟信号在 所述连续N个高电平的任一高电平期间中的高电平计数值,除以所述源时钟 信号的频率与所述参考时钟信号的频率的比值的1/2。
4.一种时钟检测的装置,其特征在于,包括:
本地定时源,用于生成源时钟信号;
可编程器件,用于对所述源时钟信号进行分频获得参考时钟信号,并将所 述源时钟信号作为计数工作时钟,确定被测时钟信号在所述参考时钟信号的连 续N个高电平的每个高电平期间的上升沿计数值和高电平计数值,其中,所 述N为正整数,并根据所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平 计数值与第一预期值的大小关系以及上升沿计数值与第二预期值的大小关系, 确定所述被测时钟信号是否有效;
其中,所述可编程器件具体包括:
分频器,用于对所述源时钟信号进行分频获得参考时钟信号;
计数器,用于将所述源时钟信号作为计数工作时钟,对被测时钟信号在所 述每个高电平期间中的上升沿进行计数获得上升沿计数值,并对被测时钟信号 在所述每个高电平期间中的高电平进行采样计数获得高电平计数值;
判决器,用于根据所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平计 数值与第一预期值的大小关系以及上升沿计数值与第二预期值的大小关系,确 定所述被测时钟信号是否有效;
其中,所述判决器进一步包括:
判断模块,用于判断所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平 计数值是否超过所述第一预期值、上升沿计数值是否超过所述第二预期值;
确定模块,用于当所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平计 数值未超过所述第一预期值且上升沿计数值未超过所述第二预期值时,确定所 述被测时钟信号有效;当所述被测时钟信号在所述每个高电平期间中的高电平 计数值超过所述第一预期值且上升沿计数值超过所述第二预期值时,确定所述 被测时钟信号无效。
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