[发明专利]Ⅲ族氮化物纳米材料的生长方法无效

专利信息
申请号: 200910085917.5 申请日: 2009-05-27
公开(公告)号: CN101898751A 公开(公告)日: 2010-12-01
发明(设计)人: 孙苋;刘文宝;朱建军;江德生;王辉;张书明;刘宗顺;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: C01B21/00 分类号: C01B21/00;C01B21/06;C01B21/064;B82B3/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 氮化物 纳米 材料 生长 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种在干法刻蚀制作的氮化镓(GaN)纳米阵列上生长III族氮化物纳米材料的生长方法。旨在生长出高质量、高纵横比的III族氮化物纳米阵列,以形成核壳(core/shell)径向异质结、p-n结、多量子阱(MQW)等结构的纳米阵列,属于III族氮化物纳米阵列生长制备领域。

背景技术

III族氮化物纳米结构可引入量子限制效应、改善应力弛豫状态、增加光学抽取效率等特点,在过去几年中得到广泛关注。例如,氮化物纳米结构可以提高氮化物LED的发光强度。

目前,纳米结构的生长方法有以下几种:(1)催化剂辅助气液固(vapor-liquid-solid,VLS)生长:在生长之前,将2-10nm厚的Ni、Fe、Au等金属热蒸发到衬底上作为催化剂,典型的VLS过程开始时,气体反应物溶入纳米尺寸的催化金属液滴中,因过饱和而生长成纳米单晶柱或线。基于VLS生长的纳米线,其顶部留有催化金属液滴,纳米线的直径是由纳米尺寸的催化剂液滴的直径决定的,而纳米线的长度是由生长时间决定;(2)MBE或等离子体辅助MBE(plasma-assisted molecular beam epitaxy,PA-MBE)生长氮化铟(InN)的方法中,InN在富氮(N-rich)的环境中会出现[0001]方向的一维生长,从而形成InN纳米柱;(3)化学气相沉积(chemical vapor deposition,CVD)通过金属In与NH3反应得到InN纳米线;(4)氢化物气相外延(HVPE)方法生长;(5)选择区域沉积(selective area deposition)法生长通过多孔阳极氧化铝(porous anodic alumina,PAA)纳米掩膜来实现GaN纳米柱的生长。

对于金属有机化学气相沉积(MOCVD)系统而言,如果采用金属催化剂的VLS生长方法,得到的纳米线通常是随机分布在衬底上的,需要将纳米线从衬底上剥离下来,对单根纳米柱进行器件制作。这样很不利于大批量的器件制作。而且引入金属,容易造成反应室的玷污。因此,使用MOCVD系统在GaN纳米柱上生长垂直于衬底的、尺寸可控且有序的氮化(镓)铟(In(Ga)N)覆盖层,形成In(Ga)N/GaN纳米柱异质结阵列是值得研究的方向。

该方法没有使用金属作催化剂,对于MOCVD系统来说,可以减少引入杂质的可能。通过这种方法,可用于制作尺寸可控的InGaN纳米器件,例如高效氮化物发光二极管(LED)阵列和光电探测器阵列等等。

发明内容

本发明的目的在于提供一种在干法刻蚀形成的GaN纳米柱阵列上生长III族氮化物纳米材料的方法,其可用于制作尺寸可控的In(Ga)N纳米光电或微电器件等,例如高效氮化物发光二极管(LED)阵列和光电探测器阵列或其他比如场发射等器件等等。本发明提供的制作方法简单易行,对于Ni金属膜和SiO2层的质量要求也不高,适合于科学实验和批量生产时采用。

本发明提供一种III族氮化物纳米材料的生长方法,包括如下步骤:

步骤1:在衬底上依次外延生长GaN模板、SiO2层和Ni金属膜;

步骤2:采用两步快速热退火方法,使Ni金属膜形成自组织的纳米尺寸Ni颗粒;

步骤3:用自组织的纳米尺寸Ni颗粒作掩模,采用干法刻蚀SiO2层,形成SiO2纳米柱;

步骤4:用自组织的纳米尺寸Ni颗粒以及刻蚀形成的SiO2纳米柱做作掩模,采用干法刻蚀GaN模板,形成GaN纳米柱阵列;

步骤5:用BOE溶液去除SiO2纳米柱以及其上的纳米尺寸Ni颗粒,得到GaN纳米柱阵列;

步骤6:在GaN纳米柱阵列上及其侧壁和纳米柱阵列的底部生长InN或InGaN III族氮化物半导体材料。

其中所述的衬底的材料为:蓝宝石、GaN、Si、GaAs、SiC或LiAlO2

其中所述的采用干法刻蚀GaN模板,形成GaN纳米柱阵列,刻蚀深度小于GaN模板的厚度。

其中所述的用干法刻蚀SiO2层,形成SiO2纳米柱,其刻蚀深度为SiO2层的厚度。

其中所述的III族氮化物半导体材料包括:GaN、AlN或InN及由它们组成的三元或者多元化合物。

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