[发明专利]测量及补偿接收机参数的方法及装置有效
| 申请号: | 200910055538.1 | 申请日: | 2009-07-29 |
| 公开(公告)号: | CN101986580A | 公开(公告)日: | 2011-03-16 |
| 发明(设计)人: | 冯珅;胡刚;聂远飞;吴美武;陈宇;斯笑岷;尤立中 | 申请(专利权)人: | 澜起科技(上海)有限公司 |
| 主分类号: | H04B17/00 | 分类号: | H04B17/00 |
| 代理公司: | 上海翰鸿律师事务所 31246 | 代理人: | 李佳铭 |
| 地址: | 200233 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测量 补偿 接收机 参数 方法 装置 | ||
1.一种测量一接收机参数的方法,该接收机包括一混频电路用以根据一输入信号产生一同相分量信号以及一正交分量信号,一同相通道链路用以处理所述同相分量信号,以及一正交通道链路用以处理所述正交分量信号,所述方法包括以下步骤:
在所述混频电路之前向所述接收机输入第一测试信号;
在所述同相通道链路上向所述接收机输入第二测试信号,在所述正交通道链路上向所述接收机输入第三测试信号;以及
利用所述第一测试信号、第二测试信号以及第三测试信号测量获得I/Q正交偏差以及I/Q延迟不平衡。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:
在同相通道链路上采样获得对应第一测试信号的第一同相分量信号;
在正交通道链路上采样获得对应第一测试信号的第一正交分量信号;
在同相通道链路上采样获得对应第二测试信号的第二同相分量信号;
在同相通道链路上采样获得对应第三测试信号的第二正交分量信号;以及
根据第一同相分量信号、第一正交分量信号、第二同相分量信号以及第二正交分量信号计算获得I/Q正交偏差以及I/Q延迟不平衡。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括以下步骤:
根据第一同相分量信号与第一正交分量信号计算获得第一相位差;
根据第二同相分量信号与第二正交分量信号计算获得第二相位差;
根据第一相位差和第二相位差计算获得I/Q正交偏差以及I/Q延迟不平衡。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述第一同相分量信号、第一正交分量信号、第二同相分量信号及第二正交分量信号为数字信号。
5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,
所述同相通道链路包括一第一低通滤波电路,所述正交通道链路包括一第二低通滤波电路,所述第一同相分量信号是在第一低通滤波电路之前的第一位置采样获得,所述第一正交分量信号是在第二低通滤波电路之前的第二位置采样获得,其中,第一位置在同相通道链路上的位置与第二位置在正交通道链路上的位置相对应,所述第二同相分量信号是在所述同相通道链路输出端采样获得,所述第二正交分量信号是在所述正交通道链路输出端采样获得;
所述第二测试信号是在所述第一位置处被输入同相通道链路;
所述第三测试信号是在所述第二位置处被输入正交通道链路。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,它还包括以下步骤:
利用一本地产生信号产生所述第一测试信号,其中,该本地产生信号用于产生本地载波信号;以及
利用所述本地产生信号产生第二测试信号以及第三测试信号。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第一测试信号为射频信号,所述第二测试信号及第三测试信号为基带信号。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述第二测试信号及第三测试信号为同一信号。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,它还包括以下步骤:
利用第一测试信号测量接收机至少一个增益模块的台阶差;以及
根据所述台阶差调整自动增益控制配置表的配置。
10.一种接收机,包括:一混频电路,利用一输入信号产生一同相分量信号以及一正交分量信号;一同相通道链路,处理所述同相分量信号;以及一正交通道链路处理所述正交分量信号,其特征在于,该接收机还包括:
第一测试信号产生电路,连接于混频电路之前,产生第一测试信号;
第二测试信号产生电路,连接于同相通道链路,产生第二测试信号;以及
第三测试信号产生电路,连接于正交通道链路,产生第三测试信号。
11.如权利要求10所述的接收机,其特征在于,
所述同相通道链路包括一第一低通滤波电路,所述第二测试信号产生电路连接于所述同相通道链路上第一低通滤波电路之前的一第一位置;
所述正交通道链路包括一第二低通滤波电路,所述第三测试信号产生电路连接于所述正交通道链路上第二低通滤波电路之前的一第二位置;
其中,所述第一位置在所述同相通道链路上的位置与所述第二位置在所述正交通道链路上的位置相对应。
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