[发明专利]微流控芯片电泳安培检测系统及其组建方法无效

专利信息
申请号: 200910030590.1 申请日: 2009-04-24
公开(公告)号: CN101871913A 公开(公告)日: 2010-10-27
发明(设计)人: 李妍 申请(专利权)人: 李妍
主分类号: G01N27/48 分类号: G01N27/48;G01N27/447
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 210008 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 微流控 芯片 电泳 安培 检测 系统 及其 组建 方法
【权利要求书】:

1.一种微流控芯片电泳安培检测系统,由微流控分析芯片、多路输出高压电源、显微镜及显微操纵手、微电极检测器、电化学安培计组成,其特征在于:所述微流控分析芯片为玻璃材质,其进样通道和分离通道宽度为5~100μm,深度为5~100μm,长度为5~150mm,所述多路输出高压电源,每一路输出电压均可单独控制,电压输出范围在50~5000V范围内可调,工作时电流输出为1~50μA;所述显微操纵手为XYZ及角度四维控制,XYZ轴向行程为5~20mm,调节的分辨率为0.2~10μm,调节角度在30~120度之间;所述微电极材料为碳纤维、金、银、铂或基于这些材料的化学修饰电极,电极的三维尺寸中至少有一项小于50μm;所述电化学安培计记录微电极检测器的电流对于时间的变化,电流可记录范围为10-12~10-3A。

2.根据权利要求1所述的微流控芯片电泳安培检测系统,其特征在于组建方法如下:

a、将微电极检测器固定在显微操作手上,在显微镜下调节,使微电极检测器的尖端对准微流控分析芯片分离通道的出口,使得微电极检测器尖端和分离通道出口截面的距离为1~200μm;

b、将缓冲试液及试样加到微流控分析芯片上,让缓冲试样充满芯片的分离通道和进样通道,通过控制多路输出的高压电源实现试样的进样和分离,试样组分在通过微电极检测器时被分别检出,信号由电化学安培计采集,输出到电脑上得到分析谱图。

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