[发明专利]树脂核心柱芯片封装方法有效
| 申请号: | 200910027453.2 | 申请日: | 2009-05-11 |
| 公开(公告)号: | CN101661891A | 公开(公告)日: | 2010-03-03 |
| 发明(设计)人: | 张黎;陈栋;曹凯;陈锦辉;赖志明 | 申请(专利权)人: | 江阴长电先进封装有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/50 | 分类号: | H01L21/50;H01L21/56;H01L21/60;H01L23/485 |
| 代理公司: | 江阴市同盛专利事务所 | 代理人: | 唐纫兰 |
| 地址: | 214434江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 树脂 核心 芯片 封装 方法 | ||
1.一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述芯片包括芯片本体(101)、芯片电极(102)、芯片表面钝化层(103)、第一层再布线金属层(104)、树脂核心(105)、第二层再布线金属层(106)、再布线金属表面保护层(107)和焊球凸点(108),所述芯片电极(102)设置在芯片本体(101)上,芯片表面钝化层(103)复合在芯片本体(101)表面以及芯片电极(102)外缘和表面外周边,而芯片电极(102)表面的中间部分露出芯片表面钝化层(103),所述第一层再布线金属层(104)覆盖在芯片表面钝化层(103)以及露出芯片表面钝化层(103)的芯片电极(102)表面中间部分,所述树脂核心(105)设置在第一层再布线金属层(104)上,所述第二层再布线金属层(106)包覆在树脂核心(105)的外围,所述第一层再布线金属层(104)、树脂核心(105)和第二层再布线金属层(106)构成树脂核心柱,所述再布线金属表面保护层(107)覆盖在芯片表面钝化层(103)、第一层再布线金属层(104)和第二层再布线金属层(106)的表面,并露出树脂核心(105)顶部的凸点下金属层(106A),所述焊球凸点(108)凸出设置在所述凸点下金属层(106A)上,所述封装方法包括以下工艺过程:
1)在露出芯片表面钝化层(103)的芯片电极(102)表面中间部分以及芯片表面钝化层(103)表面通过溅射或电镀或化学镀的方式形成第一层再布线金属层(104);
2)利用印刷或光刻的方式,在第一层再布线金属层(104)上形成树脂核心(105);
3)通过溅射或电镀或化学镀的方式在树脂核心(105)的外围形成第二层再布线金属层(106);
4)对芯片表面钝化层(103)、第一层再布线金属层(104)和第二层再布线金属层(106)的表面用再布线金属表面保护层(107)进行表面覆盖或对整个芯片表面进行覆盖,并露出树脂核心(105)顶部的凸点下金属层(106A);
5)在所述凸点下金属层106A处进行植球或印刷焊膏,并回流形成焊球凸点(108)。
2.根据权利要求1所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述树脂核心柱的位置位于芯片电极(102)上方。
3.根据权利要求1所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述树脂核心柱的位置位于芯片电极(102)旁边的芯片表面钝化层(103)上。
4.根据权利要求1、2或3所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述树脂核心(105)为高分子绝缘材料。
5.根据权利要求4所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述高分子绝缘材料为聚酰亚胺或环氧树脂。
6.根据权利要求1、2或3所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述再布线金属表面保护层(107)为高分子绝缘材料。
7.根据权利要求6所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述高分子绝缘材料为聚酰亚胺或环氧树脂。
8.根据权利要求1、2或3所述的一种树脂核心柱芯片封装方法,其特征在于所述第一层再布线金属层(104)和第二层再布线金属层(106)均为单层或多层金属材料。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





