[发明专利]用于X射线相位对比成像的探测装置有效
| 申请号: | 200880117618.9 | 申请日: | 2008-11-19 |
| 公开(公告)号: | CN101873828A | 公开(公告)日: | 2010-10-27 |
| 发明(设计)人: | T·克勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00 |
| 代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
| 地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 射线 相位 对比 成像 探测 装置 | ||
1.一种用于生成对象(1)的相位对比图像的X射线设备(100),包括
-X射线源(10);
-衍射光学元件(G1),称为DOE,其暴露于所述X射线源(10);
-谱分辨X射线探测器(30),其用于探测由所述DOE(G1)生成的干涉图样(I)。
2.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述X射线源(10)具有大于10%,优选为大约20-40%的发射带宽。
3.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述DOE包括相位光栅(G1)。
4.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述X射线探测器(30)包括X射线敏感元件(31)的阵列。
5.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述X射线探测器(30)包括调制器(G2),所述调制器用于以与所述DOE(G1)的周期相对应的周期来调制所述X射线探测器的空间敏感度。
6.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,其包括评估单元(40),所述评估单元用于确定由在从所述X射线源(10)到所述X射线探测器(30)的X射线路径上的对象(1)引起的相移(Φ)。
7.如权利要求6所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述评估单元(40)包括重建模块(41),所述重建模块用于从所述对象的从不同方向获得的相位对比投影重建对象(1)的横截面相位对比图像。
8.如权利要求1所述的X射线设备(100),
其特征在于,所述X射线源(10)包括设置在光栅(G0)之后的空间延伸发射器(11)。
9.一种用于生成对象(1)的X射线相位对比图像的方法,包括以下步骤:
-利用多色X辐射辐照所述对象;
-利用设置在所述对象之后的被称为DOE的衍射光学元件(G1)生成干涉图样(I);
-以谱分辨的方式来探测所述干涉图样;
-基于所探测的干涉图样来确定由所述对象引起的相移(Φ)。
10.一种计算机程序产品,其用于实现执行如权利要求9所述的方法。
11.一种记录载体,其上存储着如权利要求10所述的计算机程序。
12.如权利要求10所述的计算机程序产品在局域或者广域通信网络上的传输。
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