[发明专利]具有检测单元阵列的微电子传感器设备

权利要求书

1.一种微电子传感器设备(100，200)，具有检测单元(110，210)行(R1-R5)和列(C1-C6)的矩阵阵列，用于检测接触表面处的靶粒子，其中每个检测单元(110，210)包括

-至少一个传感器元件(120，220)，其用于提供与呈现某种激活状态的靶粒子的检测相应的检测信号，以及

-至少一个激活元件(130，230)，其用于将靶粒子转移到所述激活状态，

其中每行(R1-R5)中的激活元件(130，230)在关联的行访问电路(RAC4，RAC2)中与公共的行访问触点连接，

并且其中每列(C1-C6)中的传感器元件(120，220)在关联的列访问电路(CAC3，CAC1)中与公共的列访问触点连接，该微电子传感器设备(100，200)还包括

-控制部件(140，240)，其用于经由关联的行访问触点选择性地访问行访问电路(RAC4，RAC2)，

-以及读出部件(150，250)，其用于经由关联的列访问触点选择性地访问列访问电路(CAC3，CAC1)。

2.依照权利要求1的微电子传感器设备(100)，其特征在于，每行(R1-R5)中的激活元件(130)串联连接，从而构成关联的行访问电路(RAC4)。

3.依照权利要求1的微电子传感器设备(100)，其特征在于，每列(C1-C6)中的传感器元件(120)串联连接，从而构成关联的列访问电路(CAC3)。

4.依照权利要求1的微电子传感器设备(100)，其特征在于，列(C1-C6)的传感器元件(120)由电导体(121)连接。

5.依照权利要求1的微电子传感器设备(200)，其特征在于，每列(C1，C2)中的激活元件(230)连接到公共的列输出线(CL1′)，

并且每行(R1，R2)中的传感器元件(220)连接到公共的行输出线(RL2′)。

6.依照权利要求5的微电子传感器设备(200)，其特征在于，控制部件(240)适于选择性地访问列输出线(CL1′)。

7.依照权利要求5的微电子传感器设备(200)，其特征在于，读出部件(250)适于选择性地访问行输出线(RL2′)。

8.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，所述接触表面均匀或非均匀地覆盖有用于靶粒子的结合位点。

9.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，其包括用于主动地移动靶粒子的操控设备，特别是磁场发生器。

10.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，其包括用于特别地相对于靶粒子空间分布的非均匀性来评估传感器元件(120，220)的检测信号的评估部件(160，260)。

11.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，至少一个激活元件包括磁场发生器，特别是导体线或者多个平行导体线(130，230，230′)。

12.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，其包括光学的、磁性的、机械的、声学的、热力的或电气的传感器元件。

13.依照权利要求1的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，所述传感器元件包括至少一个磁阻带(120，220)。

14.依照权利要求13的微电子传感器设备(100，200)，其特征在于，至少一个激活元件包括导体线或者多个平行的导体线(130，230，230′)，所述导体线与磁阻带(120，220)平行地和/或处于相同平面地延伸。

15.依照权利要求1-14中任何一项的微电子传感器设备(100，200)在分子诊断、生物样本分析或者化学样本分析中的用途。