[发明专利]信号处理装置无效

专利信息
申请号: 200880021588.1 申请日: 2008-06-16
公开(公告)号: CN101689387A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 开原理惠;小仓洋一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李今子
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 信号 处理 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及对信息记录介质上的记录信息进行模拟-数字转换而再现数据的信号处理装置,特别涉及为了高效地使用A/D转换器的输入动态范围而调整模拟信号的DC电压的技术的改良。

背景技术

以往,在不同的芯片上构成了模拟信号处理IC和数字信号处理LSI,但通过对它们进行单片化,进行了削减电路规模、安装面积以及外装部件等的措施。另外,通过进行模拟信号处理电路的数字信号处理电路化,由此可以容易地享受由半导体工艺微缩带来的成本降低效果。

伴随这些措施,在以往的信号处理电路中,要求在从模拟信号转换为数字信号(以下称为A/D转换)的部分中高效地进行A/D转换、即在A/D转换器的输入动态范围内并且以最大振幅将模拟信号转换为数字。

作为这样的以往技术,已知例如专利文献1记载的技术。

在图2中,为易于说明,适当改写了专利文献1示出的以往的信号处理装置。

该以往的信号处理装置例如包括:高通滤波器8,通过截断从信息记录介质中再现的再现信号输入中包含的低频分量,由此从再现信号输入中去除DC偏移(offset);可变增益放大器部9,对由该高通滤波器8去除了DC偏移后的再现信号输入,提供与增益控制信号输入对应的增益;均衡器部10,将该可变增益放大器部9的输出作为输入而进行波形均衡处理;偏移部11,将该均衡器部10的输出作为输入,提供与偏移控制输入对应的DC偏移;A/D转换部3,将该偏移部11的输出作为输入,进行模拟-数字转换;波峰检测部4,根据由该A/D转换部3得到的采样数据,进行波峰检测动作;波谷检测部5,根据由上述A/D转换部3得到的采样数据,进行其波谷检测动作;振幅检测部12,根据这些波峰检测值以及波谷检测值,运算A/D转换部3的输入中的振幅信息;偏移检测部6,根据这些波峰检测值以及波谷检测值,运算A/D转换部3的输入中的偏移信息;增益控制部14,根据由该振幅检测部12得到的振幅信息来控制可变增益放大器部9,以使A/D转换部3的输入振幅成为一定;以及偏移控制部13,根据从该偏移检测部6中得到的偏移信息来控制偏移部11,以使A/D转换部3的输入偏移成为一定。

接下来,说明动作。例如,通过光拾取器等再现单元,来再现记录在光盘等信息记录介质中的记录信号。对于该再现信号输入,通过高通滤波器8去除其低频分量,并输出到可变增益放大器部9。

可变增益放大器部9被控制为使A/D转换部3的输入振幅成为一定,并对来自高通滤波器8的输入信号提供该被控制的增益。均衡器部10对该可变增益放大器部9的输出信号,进行均衡处理。

偏移部11被控制为使A/D转换部3的输入偏移成为一定,并对来自均衡器部10的输入信号提供该被控制的偏移。

A/D转换部3将偏移部11的输出信号从模拟信号转换为数字信号。波峰检测部4对该A/D转换部3的输出信号的波峰进行检测,波谷检测部5对该A/D转换部3的输出信号的波谷进行检测。

振幅检测部12通过根据波峰检测部4以及波谷检测部5的检测信号来运算A/D转换部3的输入的振幅信息,由此检测其振幅信息。增益控制部14根据振幅检测部12检测出的振幅信息,控制可变增益放大器部9所提供的增益,以使A/D转换部3的输入振幅成为一定。

偏移检测部6通过根据波峰检测部4以及波谷检测部5的检测信号来运算A/D转换部3的输入的偏移信息,由此检测其偏移信息。偏移控制部13根据偏移检测部6检测出的偏移信息,控制偏移控制部13所提供的偏移,以使A/D转换部3的输入偏移成为一定。

在此,进一步说明上述均衡器部10的功能。在再现高密度记录的光记录介质等的情况下,由于光学频率特性,短的记录标记(mark)的信号振幅会降低。因此,均衡器部10通过对该频带进行增强(boostup),来改善信号的SNR(Signal to Noise Ratio,信噪比)。

接下来,更详细说明上述偏移部11的功能。上述高通滤波器8的输入信号通过该高通滤波器8而成为DC平衡(free),但由于信息记录介质的制造阶段中的偏差而在记录标记与本来的长度相比形成为较大、或者形成为较小的情况等下,信号的“H”区间与“L”区间的比率从50∶50偏离,所以发生再现信号的平均DC电平从再现信号的上下波峰的中心位置偏离的现象。本现象多半是在记录条件并非最佳的情况下发生,一般被称为不对称(Asymmetry)。

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