[实用新型]快拆式探针测试装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及一种测试装置，特别是涉及一种能够快速更换探针或部分组件的快拆式探针测试装置。

【背景技术】

参阅图1，一般测试探针11是设置于一片基板10，并能够将该测试探针11电连接一个第一接点12，及一个第二接点14，以进行电性检测；该测试探针11是以导电材料所制成，并包括容置于该探针孔13的一个上接触件111、一个下接触件112，及一个能够压缩形变地设置于该上、下接触件111、112间的弹簧113，其中，该上、下接触件111、112分别具有一上接触部114，及一下接触部115，该上、下接触部114、115能够分别与该第一、二接点12、14触接。

在测试时，借由该上、下接触部114、115分别与该第一、二接点12、14接触而使该测试探针11产生电导通，进而将测试讯号传递至一分析仪器(图未示)以进行讯号分析。

不过，随着测试次数的增加，该上、下接触部114、115与该第一、二接点12、14之间长时间的相互刮磨，导致该上、下接触部114、115容易磨损或沾染污垢，进而使得测试讯号不良，严重者更会发生无法导通的现象，此时就必须清理或适时更换该上、下接触件111、112。

由于该下接触件112是卡设于该上接触件111中，因此无法单独更换该下接触件112或上接触件111，而必须将该测试探针11整组替换，如此一来不只增加更换探针的复杂性而使得维修成本提高，更导致测试作业因替换测试探针11而延迟，在分秒必争的生产线上，延长维修作业的时间，对生产业者而言是相当严重的情况，非但不符合经济效益，更要承担无法如期出货的风险。

【实用新型内容】

本实用新型的目的在于提供一种能够提高汰换探针的作业效率，并降低汰换探针成本的快拆式探针测试装置。

为达到上述目的，本实用新型快拆式探针测试装置，包含一个测试组合体，及一个第一快拆单元。

该测试组合体包括一个本体，及多个间隔设置地容置于该本体中的探针组；该第一快拆单元包括一片能够分离地与该测试组合体的本体组合在一起的第一盖板，及多个设置于该第一盖板的第一替换件，所述第一替换件分别与所述探针组能够分离地连接在一起。

本实用新型的功效在于，借由该第一快拆单元的第一盖板能够与该测试组合体的本体组合或分离，当令该第一盖板与本体分离的同时，将设置于该第一盖板的所述第一替换件一并自相对应连接的所述探针组上分离，进而更换另一批第一替换件，不只克服更换所述探针组的不方便性，更提高维修汰换的作业效率。

【附图说明】

图1是一局部侧视剖面图，说明一般测试探针的态样；

图2是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第一较佳实施例；

图3是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第二较佳实施例；

图4是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第三较佳实施例；

图5是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第四较佳实施例；

图6是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第五较佳实施例；

图7是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第六较佳实施例；

图8是一部份侧视剖面图，说明本实用新型快拆式探针测试装置的第七较佳实施例。

【具体实施方式】

下面结合附图及实施例对本实用新型进行详细说明：

在本实用新型被详细描述之前，要注意的是，在以下的说明中，类似的元件是以相同的编号来表示。

参阅图2，为本实用新型快拆式探针测试装置2的第一较佳实施例，该快拆式探针测试装置2包含一个测试组合体3、一个第一快拆单元4，及一个第二快拆单元5，且该快拆式探针测试装置2能够分别与多个上测试点61及多个下测试点62接触在一起。

该测试组合体3包括一个本体31，及多个间隔设置地容置于该本体31中的探针组32，其中，每一个探针组32具有一个设置在该本体31内的弹性件321，在本实施例中，所述弹性件321为弹簧，且该本体31的材质是以橡胶所制成，不过，也能够采用其他弹性胶质材料，并不受本实施例揭露者所局限，而为了便于制造，能够先将所述弹性件321置放于一个模具(图未示)中，再将橡胶灌注入该模具中，并凝固成形为该本体31，借此，能够免除对于所述弹性件321的容置空间逐一开设孔槽的作业，由于此部份并非本实用新型的重点所在，所以不多加赘述。