[实用新型]几何测绘仪无效

专利信息
申请号: 200820099563.0 申请日: 2008-07-28
公开(公告)号: CN201291684Y 公开(公告)日: 2009-08-19
发明(设计)人: 柯阳 申请(专利权)人: 柯阳
主分类号: B43L13/00 分类号: B43L13/00;B43L9/02;B43L7/00;G01B3/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400042重*** 国省代码: 重庆;85
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摘要:
搜索关键词: 几何 测绘
【权利要求书】:

1.几何测绘仪由几何测绘仪(1),条尺规(2),半径孔(2-2),量角器(3),圆心(3-1),公制尺(4),工作边(4-2),英制尺(5),英制尺工作边(5-2),市尺(6),尺规(7),测绘槽(8),数字(9),刻度(10),节材孔(11)构成,其特征在于:所述几何测绘仪(1)之量角器(3)的圆心(3-1),与公制尺(4)的公制尺原点(4-1)在一个点;量角器(3)的零角度始边与公制尺(4)的工作边(4-2)在一条线。

2.根据权利要求1所述的几何测绘仪,其特征在于:还包括尺规(7)的半径孔(2-2)分布在公制尺(4),英制尺(5)和市尺(6)的刻度上,排列出半径序数。

3.根据权利要求1所述的几何测绘仪,其特征在于:量角器(3)的零角度始边与公制尺(4)的工作边(4-2)形成的边,与对邻英制尺(5)的英制尺工作边(5-2)之两尺边之间,透空成测绘槽(8)。

4.根据权利要求1所述的几何测绘仪,其特征在于:公制尺(4),英制尺(5)和市尺(6),与量角器(3)结合位置,可以换位设置。

5.根据权利要求1所述的几何测绘仪,其特征在于:条尺规(2)上半径孔(2-2)分布结合在刻度(10)上。

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