[实用新型]一种选择性检测机台

权利要求书

1、一种选择性检测机台，所述检测机台供电性检测和/或系统级检测待测半导体组件，所述的检测机台包括复数测试端口，所述测试端口分别供设置一组电性检测单元或系统级检测单元，所述电性检测单元包括一组供电气连接所述待测半导体组件的连接器、及一组致能所述电气连接该连接器的待测半导体组件并读取所述连接器输出讯号的处理器；所述系统级检测单元包括一片仅欠缺所述待测半导体组件即构成一个完整系统、且在所述待测半导体组件置放位置设置有一个供电气连接所述待测半导体组件的连接器的系统板，所述的检测机台包括：

一包括所述测试端口的基座；

一组供容置复数个分别承载复数待测半导体组件的承载盘的供料装置；

与所述测试端口数量对应的检测装置，所述的检测装置分别包括：

一组供承载输送所述待测半导体组件的输送件；

一个可拆卸地设置于所述基座、供承载固定所述系统级测试单元系统板的承载架；及

一组将所述待测半导体组件在所述输送件和所述电性检测单元或系统级测试单元的连接器间搬移，并确保其与所述连接器的电气连接的汲取加压件；

一组供置放有复数出料承载盘的分类装置；

一组在所述供料装置、检测装置以及所述分类装置间搬移所述待测半导体组件的搬移装置；及

一组纪录所述测试端口为所述电性检测单元或系统级检测单元、驱动所述搬移装置、检测装置、接收所述电性检测单元和/或系统级检测单元输出数据的控制处理装置。