[实用新型]晶片检测装置无效

专利信息
申请号: 200820001279.5 申请日: 2008-02-01
公开(公告)号: CN201149609Y 公开(公告)日: 2008-11-12
发明(设计)人: 许宗寅 申请(专利权)人: 源程科技股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R31/02
代理公司: 北京申翔知识产权代理有限公司 代理人: 周春发
地址: 台湾省桃园县芦竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 晶片 检测 装置
【权利要求书】:

1、一种晶片检测装置,其特征在于,包括有:

一机台;

一架体,设于机台上方供插入检测接口;

一可受一第一驱动组件带动而与架体相对水平横向位移的滑台,设于机台相应于架体的下方;

一可受一第二驱动组件带动而与架体相对上下位移的载台,设于滑台上供放置晶片。

2、如权利要求1所述的晶片检测装置,其特征在于,该载台的底部设有一对滑槽供插入检测接口,并且在设有滑槽的部位设有用以将检测接口固定的固定螺丝。

3、如权利要求1所述的晶片检测装置,其特征在于,该载台上设有一对夹具供晶片定位,以及设有若干供夹具锁固的装配孔。

4、如权利要求1所述的晶片检测装置,其特征在于,该第一、第二驱动组件由气压缸构成。

5、如权利要求1所述的晶片检测装置,其特征在于,该架体的下方与载台的上方分别设有相对应配置的锥孔与锥块。

6、如权利要求1所述的晶片检测装置,其特征在于,该载台透过微调机构与第二驱动组件联结。

7、如权利要求1或6所述的晶片检测装置,其特征在于,该滑台透过微调机构与第一驱动组件联结。

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