[发明专利]测试装置及测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及测试技术，尤其涉及一种对多个元件的防电磁干扰涂层的电 阻进行快速测试的测试装置及测试方法。

背景技术

随着摄像技术的发展，镜头模组在各种用途的摄像装置中得到广泛的应 用，镜头模组与各种便携式电子装置如手机、计算机等的结合，更得到众多 消费者的青睐。

然而，随着便携式电子装置朝着功能多样化的方向发展，其元件也变得 越来越复杂，且所述元件大多需通电才能工作，这导致所述便携式电子装置 很容易因为电磁干扰而影响其正常工作。

镜头模组通常作为摄像装置的元件而广泛地应用于便携式电子装置中， 其一般包括镜片、镜座、滤光片及影像感测器等。镜片的设计方法请参阅 Min-Kang Chao等人在IEEE超声波会议(2000IEEE Ultrasonics Symposium) 上发表的论文Aspheric Lens Design。为了降低影像感测器受电磁干扰的程 度，一般还需于镜座的表面涂上一层防电磁干扰(Electro Magnetic Interference，EMI)涂层。

当镜座的表面涂上防电磁干扰涂层后，需要测量该涂层的电阻是否符合 要求。现有技术中，通常采用抽样检验的方法对批量生产的镜座进行检验。 且在抽取样品后，以人工操作静电计的方式测量涂层的电阻值。但是，由于 人为因素，静电计的探针与镜座涂层间的接触力大小与位置不确定，造成较 大的测试误差。另外，在探针与镜座涂层直接接触进行测试过程中，探针可 能会刮伤镜座涂层，导致涂层的防电磁干扰效果不佳。而且，这种测试方法 需要较多的人工处理时间，测试效率较低。

因此，有必要提供一种能快速准确测试镜座表面防电磁干扰涂层电阻的 测试装置及测试方法。

发明内容

下面将以具体实施例说明一种能准确快捷测试的测试装置及测试方法。

一种测试装置，用于测试元件的防电磁干扰涂层的电阻，所述测试装置 包括承载基板与电阻计，所述承载基板具有阳极测试接点、多个收容孔以及 阴极测试接点，所述多个收容孔用于收容多个待测试元件，所述阴极测试接 点与阳极测试接点相对，所述阳极测试接点、多个收容孔以及阴极测试接点 之间通过导电介质依次连接，所述电阻计与所述阳极测试接点和阴极测试接 点电连接，用于获得阳极测试接点与阴极测试接点之间的电阻。

一种测试方法，包括步骤：提供如上所述的测试装置；将多个待测试元 件分别放置于测试装置的多个收容孔；利用电阻计测量测试装置和多个测试 元件的防电磁干扰涂层的总电阻；判断该多个元件是否合格。

相对于现有技术，本技术方案所采用的测试装置及测试方法具有如下优 点：首先，其可利用多个收容孔收容多个元件进行测试，大大提高了测试的 效率；其次，其利用电阻计与测试装置的阳极测试接点与阴极测试接点的导 电介质接触压紧进行测试，可更好地控制接触力量与测试位置，提高测试的 准确率；再次，所述电阻计不用直接压紧于元件的防电磁干扰涂层即可对其 电阻进行测试，避免电阻计在测试过程中刮伤元件的防电磁干扰涂层。

附图说明

图1是本技术方案第一实施例提供的测试装置的示意图。

图2是本技术方案提供的待测试镜座的结构示意图。

图3是本技术方案第二实施例提供的测试装置的示意图。

图4是本技术方案第三实施例提供的测试装置的示意图。

具体实施方式

下面将结合多个实施例和附图对本技术方案的测试装置及测试方法作 进一步详细说明。本技术方案的测试装置及测试方法可用于测试各种元件的 防电磁干扰涂层的电阻。

请一并参阅图1及图2，本技术方案第一实施例提供的测试装置100， 用于同时测试多个元件的防电磁干扰涂层的电阻。本实施例中，所述元件为 镜座200，镜座200包括底座210和收容部220。所述底座210为长方体形， 其具有四个侧面211、一个上表面212以及一个与上表面212相对的下表面 213。所述收容部220设置于所述上表面212，收容部220具有环形的侧壁 222，环形的侧壁222围合形成圆孔221，以收容镜筒。其中，所述四个侧面 211、上表面212与侧壁222上均涂布有防电磁干扰涂层。

所述测试装置100包括承载基板10与电阻计20。