[发明专利]一种多次反射气室

说明书

技术领域

本发明涉及一种气室，特别是关于一种应用于红外线分析仪中的多次反射气室。

背景技术

目前，应用于红外线分析仪中的气室主要包括直通式气室和多次反射式气室两类，其中直通式气室结构简单、气室容积小、反应速度快，是工业中高浓度气体分析常用的方法。但是，直通式气室受标准机箱大小规格的限制，使其光程不超过200mm，因此直通式气室仅限于高浓度气体的测量。多次反射气室的特点是在有限的空间内，利用多次反射的原理增大光程，从而增加光学深度，但是由于气室结构的原因，现有的多次反射式气室的光程至少为800mm，因此现有的多次反射气室仅适合于微量气体的分析测量，例如大气中某些微量有害气体的分析测量。也就是说传统气室无法得到范围为200mm～800mm的光程，从而无法对中浓度气体进行测量分析。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的是提供一种通过增加垫块以实现不同光程，以实现对不同中浓度气体的分析测量，并且整体密封的多次反射气室。

为实现上述目的，本发明采取以下技术方案：一种多次反射气室，其特征在于包括：一光学池，所述光学池为两端通透的中空长方体；二所述通透端上分别固定连接一主反射镜板和一1/2反射镜板，二所述通透端与所述主反射镜板和1/2反射镜板之间设置有“O”形密封圈；所述主反射镜板上粘结有一主反射镜，所述1/2反射镜板上平行粘结有两1/2反射镜；与所述光学池一体的另两侧板上分别开设有一进光口和一与其对应设置的出光口；所述光学池内的进光口和出光口处分别设置有一入射反射镜和一输出反射镜，且所述入射反射镜和输出反射镜分别与进光、出光方向成45°角；所述光学池上设置有二气口，所述光学池与所述1/2反射镜板之间固定连接一两端通透的垫块。

一所述1/2反射镜的反射角度固定，另一所述1/2反射镜的反射角度可调。

所述主反射镜和1/2反射镜为光学半径相同的凹面镜。

所述主反射镜与所述1/2反射镜的光学半径至少为57mm。

所述主反射镜板与所述1/2反射镜板之间的距离为所述主反射镜或1/2反射镜的光学半径。

本发明由于采取以上技术方案，其具有以下优点：1、由于本发明可以在光学池的一端增加不同长度的垫块，使增加了垫块的光学池上的主反射镜板与1/2反射镜板之间的距离仍符合主反射镜或1/2反射镜的光学半径R的要求，因此实现了改变光程目的，进而实现了对不同中浓度气体的测量。2、由于本发明采用的主反射镜和1/2反射镜的光学半径至少为57mm，使光学池内的光程可在228mm～2000mm之间选择，因此避免了传统气室无法得到光程范围为200mm～800mm的弊端，进而彻底地解决了传统气室无法测量中浓度气体浓度的问题。3、由于本发明可以在不改变反射镜光学半径的情况下，通过调整1/2反射镜的反射角度，来改变光学池内的反射次数，因此实现了改变光程目的，进而实现了对不同中浓度气体的测量。4、由于本发明与外界的连接器件均采用了“O”形密封圈连接密封，因此防止了外界气体的干扰，提高了本发明气体浓度测量的准确性。5、由于本发明体积小，因此响应速度快。6、由于本发明采用的是一整体结构的型材，即将各工件从一个整体型材中加工出来，因此容易实现密封性，而且加工简单，降低了生产成本。本发明扩大了测量范围，实现了对不同中浓度气体的精准性测量。

附图说明

图1是本发明的结构示意图

图2是本发明中主反射镜板的结构示意图

图3是本发明的剖视图

图4是本发明接加垫块后的结构示意图

图5是一实施例的结构示意图

图6是实施例中安装板的结构示意图

具体实施方式

下面结合实施例，对本发明进行详细的描述。