[发明专利]双源双能量直线式安检CT装置及其检测方法有效
| 申请号: | 200810232866.X | 申请日: | 2008-10-14 |
| 公开(公告)号: | CN101387610A | 公开(公告)日: | 2009-03-18 |
| 发明(设计)人: | 曾理;李宗剑;邹晓兵 | 申请(专利权)人: | 重庆大学 |
| 主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/087 |
| 代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司 | 代理人: | 谢殿武 |
| 地址: | 400044重*** | 国省代码: | 重庆;85 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 双源双 能量 直线 安检 ct 装置 及其 检测 方法 | ||
1.一种利用双源双能量直线式安检CT装置进行安全检测的方法,其特征在于:包括以下步骤:
a.启动射线发生装置、数据采集装置、控制及图像处理系统和被检物输送装置;所述射线发生装置和数据采集装置与控制及图像处理系统(5)相连,所述射线发生装置包括高能射线发生装置(1)和低能射线发生装置(2),与高能射线发生装置(1)对应设置高能数据采集装置(3),与低能射线发生装置(2)对应设置低能数据采集装置(4),所述高能射线发生装置(1)的射线束与低能射线发生装置(2)的射线束之间以横向互呈90°角的方式设置;
b.高能射线发生装置和低能射线发生装置的射线束透射被检物输送装置上的待检测物体,高能数据采集装置和低能数据采集装置采集数据并输送至控制及图像处理系统,对透视图像分析,判断图像中是否存在嫌疑区域;进行透射投影数据的降噪和一致性校正预处理,求解有效原子序数和确定待检物体几何参数,判断是否存在嫌疑区域,如果否,则结束检查;对透视图像内的嫌疑区域进行跟踪,跟踪采用有限线积分的方法;
高能数据采集装置和低能数据采集装置采集数据同时或不同时进行;
同时进行时,低能射线发生装置射线束S1P的投影记作p11(l,u1,v1),待检测物体的重建公式如下,
其中,
x=l+r11cosφ11,y=r11sinφ11
高能射线发生装置射线束S2P的投影记作p12(l,u2,v2),待检测物体的重建公式如下,
其中,
x=l+r12cosφ12,z=r12sinφ12
不同时进行时,低能射线发生装置射线束S1P′的投影记作p21(l,u1,v1),控制及图像处理系统中低能中心虚拟探测器中心O′1的坐标为(x01,0,z),待检测物体的重建公式如下,
其中,
x=l+r21cosφ21,y=r21sinφ21
高能射线发生装置射线束S2P′的投影记作p22(l,u2,v2),控制及图像处理系统中高能中心虚拟探测器中心O′2的坐标为(x02,y,0),待检测物体的重建公式如下,
其中,
x=l+r22cosφ22,z=r22sinφ22
公式中:x轴待检物体运动方向,y轴为横向,z轴为高度方向;P、P′代表重建物体点,S1代表低能射线源,S2代表高能射线源,O1代表低能面阵探测器中心,O2代表高能面阵探测器中心,O为S1O1和S2O2连线的交点,O′为S1O1和S2O2垂线的中点,S1到O的距离记作RS1,S1到O′的距离记作RS1′,S2到O的距离记作RS2,S2到O′的距离记作RS2′,待检测物体中心坐标为(l,0,0),高能、低能探测器坐标系分别为u1-v1和u2-v2,u1、u2平行于x轴,v1平行于z轴,v2平行于y轴,θ1,m=tan-1(u1,m/RS1),u1,m为低能探测器在x方向的半宽度,t1,m为低能射线束重排后低能探测器在x方向坐标的最大值,θ2.m=tan-1(u2,m/RS2),u2,m为高能探测器在x方向的半宽度,t2,m为高能射线束重排后高能探测器在x方向坐标的最大值,h(t)为斜坡滤波器,S1P的长度为r11,S2P的长度为r12,S1P′的长度为r21,S2P′的长度为r22,S1P与x方向的夹角为φ11,S2P与x方向的夹角为φ12,S1P′与x方向的夹角为φ21,S2P′与x方向的夹角为φ22,g11(r11,φ11,z)、g21(r21,φ21,z)为S1所在中心平面以物体中心坐标为极坐标原点建立的物体重建坐标,g12(r12,φ12,y)、g22(r22,φ22,y)为S2所在中心平面以物体中心坐标为极坐标原点建立的物体重建坐标;
c.步骤b中判断图像中如果存在嫌疑区域,从高能数据采集装置和低能数据采集装置两组透射投影数据中重建出待检测物体中嫌疑区域的断层图像和三维立体图像,利用重建图像判断出其中是否存在危险品。
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