[发明专利]抽气装置及半导体加工装置有效
| 申请号: | 200810225188.4 | 申请日: | 2008-10-30 |
| 公开(公告)号: | CN101764042A | 公开(公告)日: | 2010-06-30 |
| 发明(设计)人: | 刘少锋 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
| 主分类号: | H01L21/00 | 分类号: | H01L21/00;C23C14/56;C23C16/54;F04D19/04;H01J37/32;B01J3/03 |
| 代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 赵镇勇 |
| 地址: | 100016 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 装置 半导体 加工 | ||
技术领域
本发明涉及一种半导体加工技术,尤其涉及一种抽气装置及半导体加工装置。
背景技术
在半导体制造工艺中,工艺腔室通常是为半导体晶片的加工提供真空环境,通过向工艺腔室中供应反应气体,在低压下,反应气体通过上电极和下电极在射频功率的激发下,产生电离形成等离子体,从而对半导体基片表面进行相应的材料腐蚀或沉积,反映生成物脱离被刻蚀物质表面,并被真空抽气系统抽出工艺腔室。对于半导体基片加工来说,整个基片表面处理的均匀性是加工工艺的一个极其重要的指标,而与该指标密切相关的是化学气体进入反应腔室后形成的气流场,该气流场相对于晶片中心的对称性对于加工工艺相当重要。其中,真空抽气系统对工艺腔室内气流场的影响很大。
如图1和图2所示,现有技术中,工艺腔室1的抽气系统一般分为下抽式和侧抽式两种结构。其中,下抽气结构是目前比较常用的结构。
在下抽式的结构中,分子泵4、摆阀3、抽气口等设置在工艺腔室的下部,下电极部分处于工艺腔室1的真空环境中。
上述现有技术至少存在以下缺点:
当下电极出现问题需要维护和操作时,就必须将设备整个打开暴露于大气中,维护和操作复杂且效率低。
发明内容
本发明的目的是提供一种对下电极的维护和操作简单,且效率高的抽气装置及半导体加工装置。
本发明的目的是通过以下技术方案实现的:
本发明的抽气装置,该抽气装置为筒状结构,包括侧壁,所述侧壁上设有一个或多个开口,所述侧壁中沿轴向设有一条或多条气体通道。
本发明的半导体加工装置,包括工艺腔室,所述工艺腔室的下部设有上述的抽气装置。
由上述本发明提供的技术方案可以看出,本发明所述的抽气装置及半导体加工装置,由于抽气装置为筒状结构,侧壁上设有一个或多个开口,侧壁中沿轴向设有一条或多条气体通道。当半导体加工装置的工艺腔室的下部设有上述的抽气装置后,下电极可以部分置于抽气装置中部的腔体中,既可以通过侧壁中的气体通道实现对工艺腔室的抽气,又可以通过侧壁上的开口对下电极进行维护和操作。对下电极的维护和操作简单、且效率高。
附图说明
图1为现有技术中的工艺腔室及其下抽式抽气系统的结构示意图;
图2为现有技术中的工艺腔室及其侧抽式抽气系统的结构示意图;
图3为本发明的抽气装置的立面结构示意图;
图4为本发明的抽气装置的平面结构示意图;
图5为图3的A—A向剖视示意图;
图6为图3的立面剖视示意图;
图7为本发明的半导体加工装置的平面结构示意图。
具体实施方式
本发明的抽气装置,其较佳的具体实施方式是,该抽气装置为筒状结构,即空心柱状,筒状结构包括侧壁,侧壁构成的内部腔体可以放置设备元件,侧壁上设有一个或多个开口,用于取出、放入或维修、操作内部腔体中的设备元件等。侧壁中沿轴向设有一条或多条气体通道用于实现抽气功能。
筒状结构可以为圆筒状结构,也可以为棱筒状结构,如三棱筒状结构或四棱筒状结构等。侧壁上的开口可以为矩形开口,也可以为圆形开口或椭圆形开口等。
当侧壁上有多个开口时,对于圆筒状结构,多个开口可以沿圆筒状结构的周向均匀布置,气体通道可以设置在圆筒状结构的侧壁的未开口部位;对于棱筒状结构,开口可以布置在棱筒状结构的侧壁的面的部位,气体通道可以布置在棱筒状结构的侧壁的棱的部位。
筒状结构的下部可以设有匀流空腔,多条气体通道的下端分别与匀流空腔相通,起到匀流作用。
具体实施例:
如图3—图6所示,抽气装置为圆筒状结构,内部构成腔体9,圆筒状结构的侧壁6上设有3个开口10和3条气体通道8,3个开口10和3条气体通道8相互间隔布置。实际上就是将环形的圆筒沿圆周挖去均匀分布的三块扇形的侧壁,剩下的侧壁部分做成中空的结构。
圆筒的上、下端设有连接法兰5、7,上端法兰5上面和下端法兰的下面可以分别设有环形的密封槽和螺栓安装孔等,这样便于与其它的设备进行连接且保证密封性等。
下端法兰7可以为盲板法兰,盲板法兰的下表面的中部向上凹进形成匀流空腔11。
本发明的半导体加工装置,其较佳的具体实施方式如图7所示,包括工艺腔室1,工艺腔室1的下部可以设有上述的抽气装置2。该半导体加工装置可以为等离子体加工装置,也可以为其它的半导体加工装置,抽气装置2的下端可以通过摆阀3与分子泵4等真空抽气系统连接,并通过抽气装置2的上、下端的连接法兰5、7保证抽气装置2与工艺腔室1和摆阀3之间的连接和密封。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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