[发明专利]影像传感器位置的校正方法

权利要求书

1.一种影像传感器位置的校正方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、在影像传感器上投射指定的影像，移动所述指定的影像形成至少两个成像点；通过X轴光栅尺和Y轴光栅尺分别读取所述两个成像点的光栅尺坐标，通过所述影像传感器记录所述两个成像点在该影像传感器参照系下的实际坐标；

B、根据光栅尺与所述影像传感器准确安装时的空间关系，将所述两个成像点的光栅尺坐标及在所述影像传感器参照系下的实际坐标转换为同一参考坐标；

C、将所述各成像点转换后的两个坐标进行比较，根据所述比较结果对所述影像传感器的位置和角度进行调整。

2.根据权利要求1所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤A中在影像传感器上投射指定的影像并移动所述指定的影像形成至少两个成像点的过程具体包括：

A1、将投射到曝光模块内微反射镜器件的矩形图像信息更换为指定的影像图像信息；

A2、所述曝光模块将上述指定的影像图像信息投射在所述影像传感器上形成指定的影像，并将所述指定的影像定位形成第一成像点；

A3、通过曝光模块在X轴方向上的运动和/或影像传感器在Y轴方向上的运动，使所述指定的影像在所述影像传感器上移动形成第二成像点。

3.根据权利要求2所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤A2中将所述指定的影像定位至所述影像传感器准确安装时的中心位置。

4.根据权利要求2所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤A3中移动的距离为所述影像传感器可测量到的值。

5.根据权利要求1所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤A中指定的影像为点影像或中心对称图形影像。

6.根据权利要求1所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤B具体为：

将所述两个成像点的光栅尺坐标转换成在所述影像传感器参照系下的实际坐标，或将所述两个成像点在所述影像传感器参照系下的实际坐标转换成光栅尺坐标。

7.根据权利要求2所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤C具体包括：

C11、将所述第一成像点转换后的两个坐标进行比较，得到所述影像传感器需要调整的距离，将所述影像传感器在X轴和/或Y轴方向上移动使得所述第一成像点的两个坐标一致；

C12、将所述第二成像点转换后的两个坐标进行比较，得到所述影像传感器需要调整的角度，将所述影像传感器以第一成像点为中心转动使得所述第二成像点的两个坐标一致。

8.根据权利要求2所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤C具体包括：

C21、将所述各成像点转换后的两个坐标进行比较，得到所述影像传感器需要调整的角度，根据所述角度转动所述影像传感器；

C22、将所述影像传感器在X轴和/或Y轴方向上移动使得所述两个成像点的两个坐标一致。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤C中将各个成像点转换后的两个坐标进行比较之后还包括：

通过显示设备将所述比较结果进行显示。

10.根据权利要求1所述的影像传感器位置的校正方法，其特征在于，所述步骤C之后还包括：

通过曝光模块在X轴方向上的运动和/或移动平台在Y轴方向上的运动，使所述指定的影像定位到另一影像传感器上形成至少两个成像点；

通过步骤B和C的方法对上述影像传感器的位置进行调整。