[发明专利]热阻法检测红外焦平面互连铟柱连通性的方法无效
| 申请号： | 200810201546.8 | 申请日： | 2008-10-22 |
| 公开（公告）号： | CN101393151A | 公开（公告）日： | 2009-03-25 |
| 发明（设计）人： | 张海燕;胡晓宁;李言谨;龚海梅 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海技术物理研究所 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人： | 郭 英 |
| 地址： | 20008*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 热阻法 检测 红外 平面 互连 连通性 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种热阻法检测红外焦平面互连铟柱连通性的方法，其特征在于：它采用红外热像仪(8)对被测的芯片表面成像，获得芯片表面的温度分布，进而获得铟柱阵列的倒焊互连质量的分布情况。
2.根据权力要求1所述的一种热阻法检测红外焦平面互连铟柱连通性的方法，其特征在于：所说的红外热像仪采用sofradir公司320×240红外成像仪。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海技术物理研究所，未经中国科学院上海技术物理研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810201546.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种蟑螂诱杀盒
- 下一篇：非致冷红外焦平面面阵静态地平仪
