[发明专利]一种温变环境下光源的光学性能参数的测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及温变环境下光源的光学性能参数的测试系统。属于光源测试技术领域。

背景技术

随着光源技术的发展，光源已被广泛应用于各种高精度测试仪器中，由于不同仪器对光源的谱宽、功率、工作波长和偏振度均有各自不同的要求，因此，测试出光源的各性能参数具有重要意义。目前测试光源光学性能参数的仪器种类繁多，但大多数是功能单一的专业性测试仪器，往往需要不断调换测试设备才能对光源的性能和技术指标作出比较全面的分析，这样不仅会增加测试的工作量，增大出错率，而且不同的测试参数不能同时测得，实时性差，不利于现场调试。

发明内容

本发明的目的是针对以上存在的问题，设计了一种集多种功能为一体、在温变环境中(-40—80℃)测试光源的光学性能参数的系统。

本发明的温变环境下光源的光学性能参数的测试系统，包括CPU处理模块、光功率计、光谱仪、光偏振度仪、显示模块、EVOA衰减器、分束器和电源模块、温度计接口、光学接口和光源驱动接口，其中，

光功率计、光谱仪、光偏振度仪和温度计接口分别与CPU处理模块相连，与CPU处理模块实现信号双向传输；

显示模块，用于实时显示待测光源的光学性能参数，与CPU处理模块相连；

EVOA衰减器，用于衰减接收到的光信号，EVOA衰减器的输入端与光学接口相连，输出端与分束器的输入端相连；

分束器，用于将接收到的光信号三等分后分别传送给光功率计、光谱仪和光偏振度仪；

电源模块，用于给CPU处理模块、显示模块、EVOA衰减器和光源驱动接口供电。

光功率计、光谱仪和光偏振度仪可以采用现有的仪器。

与现有技术相比，本发明的温变环境下光源光学性能参数的测试系统，能在温变环境中(-40—80℃)有效测试光源的输出功率、光谱、偏振度和温度值，并可得到中心波长和半峰值全带宽，具有实时性好、功能多、使用方便等优点，能广泛应用于850—1650nm的光源在温变条件下的光学性能测试中。

附图说明

图1为本发明的温变环境下光源的光学性能参数的测试系统构成示意图。

具体实施方式

以下结合附图进一步说明本发明。

参照图1，本发明的温变环境下光源的光学性能参数的测试系统，其特征在于，包括CPU处理模块1、光功率计2、光谱仪3、光偏振度仪4、显示模块5、EVOA衰减器6、分束器7和电源模块8、温度计接口9、光学接口10和光源驱动接口11，其中，

光功率计2、光谱仪3、光偏振度仪4和温度计接口9分别与CPU处理模块1相连，与CPU处理模块1实现信号双向传输；

显示模块5，用于实时显示待测光源的光学性能参数，与CPU处理模块1相连；

EVOA衰减器6，用于衰减接收到的光信号，EVOA衰减器6的输入端与光学接口10相连，输出端与分束器7的输入端相连；

分束器7，用于将接收到的光信号三等分后分别传送给光功率计2、光谱仪3和光偏振度仪4；

电源模块8，用于给CPU处理模块1、显示模块5、EVOA衰减器6和光源驱动接口11供电。

在温变环境下测试光源的光学性能参数的方法如下：

将外接温度计连接到温度计接口上，把外接温度计固定在待测光源的管芯处，用标准DB9串口线将待测光源与光源驱动接口相连，待测光源的输出端通过光纤与光学接口相连，把待测光源连同温度计一块放进温箱中，使温箱的温度处于变化状态。由电源模块给CPU处理模块、显示模块、EVOA衰减器和光源驱动接口供电。整个测试过程在CPU处理模块的控制下进行。待测光源通过光学接口将光信号传送给EVOA衰减器，EVOA衰减器将接收到的光信号衰减后传送给分束器，由分束器将接收到的光信号三等分后通过光纤分别传送给光功率计、光谱仪和光偏振度仪，光功率计、光谱仪和光偏振度仪接收光信号并等待CPU处理模块下达的操作指令信号；当光功率计、光谱仪和光偏振度仪接收到CPU处理模块的操作指令后，则分别把接收到的光信号转换为光功率、光谱值、光偏振度值相对应的电信号后传送给CPU处理模块，外接温度计根据从CPU处理模块接收到的操作指令信号把采集到的温度值传送给CPU处理模块，CPU处理模块把接收到的光功率值、光谱、偏振度和温度值信号传送给显示模块实时显示，从而得到在温变环境下光源的光学性能参数。