[发明专利]半导体封装及半导体封装的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810161769.6 申请日: 2008-09-26
公开(公告)号: CN101399243A 公开(公告)日: 2009-04-01
发明(设计)人: 吉冈心平;渡边尚威 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L23/48 分类号: H01L23/48;H01L21/60
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 郭 放
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 封装 制造 方法
【说明书】:

技术领域

本发明涉及半导体封装及半导体封装的制造方法,特别涉及能够 使安装工序简化及容易化的半导体封装及半导体封装的制造方法。

背景技术

当前,作为功率半导体元件,经常使用IGBT(绝缘栅双极晶体 管)、IEGT(注入增强栅晶体管)、MOSFET(金属氧化物半导体 场效应晶体管)等半导体元件。这些半导体元件形成为板状,且半导 体元件的正面具有正面侧功率端子和控制端子。此外,在半导体元件 的背面,设置有背面侧功率端子。

另外,当半导体元件为IGBT元件时,正面侧功率端子为发射极 电极,背面侧功率端子为集电极电极电极,控制端子为栅极电极。

将这样的半导体元件安装在基板上作为半导体封装时,半导体元 件的背面侧功率端子通过焊料接合与基板正面侧的电极连接。此外, 半导体元件的正面侧功率端子及控制端子通过使用了铝线的引线键 合而连接到基板正面侧的电极上(例如,参照专利文献1、2)。

但是,当应用引线键合时,因为要逐个地键合引线,所以键合工 序费时,并且可能增大制造成本。此外,由于引线形成环路,引线长 度变长,布线电感增大,外部形状增大。再有,当对半导体元件施加 震动时,有可能由于电线的断线或接触到邻接引线等而发生短路等的 问题。

因此,对半导体元件的正面侧功率端子不采用引线键合法,而是 采用对铝薄板等进行键合的方法、或对平板或引脚进行焊料接合并作 为电极引出的方法等。

在具有多个这种半导体封装的半导体模块中,多个半导体封装被 排成一列地设置在作为散热板的基底基板上。此时,半导体封装的基 板背面与基底基板相接合。这种半导体模块被搭载在逆变器及转换器 等电控制装置上。

【专利文献1】日本特开2002-164485号公报

【专利文献2】日本特开2003-110064号公报

在上述半导体模块中,由于各个半导体封装仅单面接触基底基 板,所以不能充分地进行散热。此外,由于设置成各个半导体封装的 基板背面接合到基底基板的结构,所以半导体封装对于基底基板的设 置面积增大。即,可能导致半导体封装的大型化。

为了防止上述情况,已知将各个半导体封装排列成一列设置,并 且利用汇流条等一对导电部件从正反面夹持这些半导体封装,并设置 在基底基板上的技术。

但是,这一对导电部件具有热传导性,也起到散热部件的功能, 所以根据电流的供给而热膨胀或收缩。另外,导电部件的基底基板侧 的端部为固定端,其相反侧为自由端。因此,导电部件的热膨胀或收 缩动作在自由端与固定端之间存在差异,该动作在自由端变得比较 大。通过该动作向半导体封装施加外力,存在半导体封装破损的问题。

另外,当要实现半导体封装的小型化时,半导体元件的各端子的 连接部分也变小。因此,在半导体封装的制造方法中,有时不能充分 接合,因此接合部可能变得容易破损。

为了防止这样的破损,有通过采取扩大接合面积的方法、以及不 仅只接合一面还通过焊料(或粘结剂等)来连接侧面的方法来充分接 合的方法。但是,在这些方法中,焊料的熔接部位增多,并且可能增 加设置焊料及间隔件等的设置工序及熔接工序等安装工序。这种安装 工序的增加将导致量产成本的增大。

发明内容

因此,本发明目的在于提供一种半导体封装及半导体封装的制造 方法,即使在机械接合的情况下,也能减少制造工序,而不会减小接 合强度。

为了解决上述问题并实现上述目的,本发明的半导体封装及半导 体封装的制造方法的构成如下。

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