[发明专利]一种IOB测试方法有效
| 申请号： | 200810148116.4 | 申请日： | 2008-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN101452050A | 公开（公告）日： | 2009-06-10 |
| 发明（设计）人： | 但科;曾波;侯伶俐;李文昌;冯新鹤 | 申请（专利权）人： | 成都华微电子系统有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317;G01R31/02 |
| 代理公司： | 成都惠迪专利事务所 | 代理人： | 刘 勋 |
| 地址： | 610041四川省成都市高*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 iob 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种IOB测试方法，其特征在于，包括以下步骤：
1)通过对FPGA的配置实现IOB的内部连接，通过PCB板实现IOB的外部连接，串联所有的IOB；
2)从第一个IOB输入测试信号，检测最后一个IOB的输出信号；
3)从最后一个IOB输入测试信号，检测第一个IOB的输出信号；
所述IOB为FPGA的输入输出块。
2.如权利要求1所述的IOB测试方法，其特征在于，顺次连接IOB，即从第一个IOB起，连接相邻两个IOB。
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