[发明专利]薄膜晶体管液晶显示器像素结构及制作方法有效
| 申请号: | 200810102789.6 | 申请日: | 2008-03-26 |
| 公开(公告)号: | CN101546077A | 公开(公告)日: | 2009-09-30 |
| 发明(设计)人: | 何祥飞;王威 | 申请(专利权)人: | 北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;H01L27/12;H01L29/786;H01L21/84;G03F1/00 |
| 代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 | 代理人: | 程殿军;张颖玲 |
| 地址: | 100176北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 薄膜晶体管 液晶显示器 像素 结构 制作方法 | ||
1.一种薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,包括有栅线和数据线,栅线和数据线交叉形成像素区域,所述像素区域包括至少一薄膜晶体管和一像素电极,其特征在于,所述薄膜晶体管的源极形成在最底层,所述源极上依次为有源层和漏极,所述源极与数据线连接、漏极与像素电极连接;所述栅极形成在有源层的侧面,并与栅线连接;所述有源层的侧面、与有源层的侧面相对的栅极部分构成垂直向的电流沟道,即形成侧栅极沟道。
2.根据权利要求1所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,所述有源层为三层结构,由上至下依次为:掺杂半导体层、半导体层、掺杂半导体层;
所述像素电极连接于有源层的上掺杂半导体层,所述源极与有源层的下掺杂半导体层连接。
3.根据权利要求1所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,所述掺杂半导体层为N+a-Si层,所述半导体层为a-Si层。
4.根据权利要求1所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,同一次构图工艺中形成的所述像素电极、漏极及栅极与另同一次构图工艺中形成的所述栅线、数据线及有源层之间形成有绝缘层。
5.根据权利要求4所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,所述漏极与有源层之间通过绝缘层上的过孔连接;所述栅极与所述栅线之间通过绝缘层上的过孔连接。
6.根据权利要求1所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,所述栅线、数据线及源极由同一次构图工艺中的相同材质形成。
7.根据权利要求1所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构,其特征在于,所述像素电极、漏极及栅极由同一次构图工艺中的相同材质形成。
8.一种薄膜晶体管液晶显示器的像素结构的制作方法,其特征在于,该方法包括:
步骤一:在衬底基板上沉积金属层和有源层,进行构图工艺,形成栅线、 数据线和有源层的结构;其中,数据线的一部分作为源极,所述有源层形成于源极上;
步骤二:在当前的衬底基板上沉积绝缘层,在栅线及有源层连接电极层处进行构图,去除连接电极层处的绝缘层,形成过孔;
步骤三:沉积电极层,进行构图,至少形成像素电极、栅极;其中像素电极的一部分用作薄膜晶体管的漏极,通过过孔与有源层连接;栅极形成在有源层的侧面,并通过过孔与栅线连接,有源层的侧面、与有源层的侧面相对的栅极部分构成垂直向的电流沟道,即形成侧栅极沟道。
9.根据权利要求8所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构的制作方法,其特征在于,步骤一中的构图采用的是灰色调掩膜工艺或半色调掩膜工艺。
10.根据权利要求8所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构的制作方法,其特征在于,所述有源层为三层结构,由上至下依次为:掺杂半导体层、半导体层、掺杂半导体层;
所述像素电极连接于有源层的上掺杂半导体层,所述源极与有源层的下掺杂半导体层连接。
11.根据权利要求10所述的薄膜晶体管液晶显示器的像素结构的制作方法,其特征在于,所述掺杂半导体层为N+a-Si层,所述半导体层为a-Si层。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京京东方光电科技有限公司,未经北京京东方光电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810102789.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种矿井斜巷阻车装置
- 下一篇:一种轨道车连接装置





