[发明专利]多功能软磁材料测量装置无效
| 申请号: | 200810054031.X | 申请日: | 2008-08-01 |
| 公开(公告)号: | CN101363904A | 公开(公告)日: | 2009-02-11 |
| 发明(设计)人: | 王治;李强;陈学刚;车相辉 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
| 主分类号: | G01R33/12 | 分类号: | G01R33/12 |
| 代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 | 代理人: | 江镇华 |
| 地址: | 300072*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 多功能 材料 测量 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种。特别是涉及一种使用一台测量仪器可以实现同一带状软磁材料样品的四个磁性参数的测量的多功能软磁材料测量装置。
背景技术
为了适应纳米晶合金材料的发展,相关的磁测量设备也应不断更新。对于非晶与纳米晶软磁材料主要的磁性指标包括:磁化强度、磁导率、磁各向异性及磁致伸缩等。为了对这种材料的软磁特性做出综合的评估,需要对初始磁导率,饱和磁感应强度,磁各向异性常数和磁致伸缩系数进行同时测量。目前测量初始磁导率一般采用电感间接测量;测量饱和磁感应强度的方法有很多:冲击电流法、磁秤(磁天平)法、振动样品(线圈)磁强计法、微波法等;测量各向异性的方法主要包括:用扭矩磁强计研究单晶和薄膜的各向异性;通过铁磁共振和定量上通过谱测定各向异性。磁致伸缩系数的测量主要包括:光学法测量位移,形变法测量位移,三端电容法测量位移。
目前的测量装置一般仅能测量其中的一种性能、而且需要不同形状的试样。这样有可能由于不同试样之间的差异,不能很好地反映这些磁性能之间的内在联系。
发明内容
本发明所要解决的技术问题是,提供一种使用一台测量仪器可以实现同一带状软磁材料样品的四个磁性参数的测量的多功能软磁材料测量装置。
本发明所采用的技术方案是:一种多功能软磁材料测量装置,包括有:形成有中空通路的仪器主体框架;设置于仪器主体框架上面的仪器主面板,所述的仪器主面板中部形成有与仪器主体框架的中空通路对应的通孔;穿过仪器主面板的通孔插入到仪器主体框架的中空通路内的中心装置,所述的中心装置中放置被测样品;其中,所述的仪器主面板用于固定中心装置和中心装置中的被测样品。
所述的仪器主体框架,包括有:通过丝杠由上至下依次固定设置的上面板、托板和底盘;在上面板与托板之间设置有磁化线圈,在上面板和托板的中心分别开有与磁化线圈内径相同的通孔,并与磁化线圈共同形成中空通路;在底盘上设置有圆水准器。
所述的磁化线圈的外径为18~22cm,内径为7~10cm。
所述的中心装置包括有中心开有设置被测样品的通孔的样品盒,所述的样品盒为中部凹进的I形结构,其凹进的中部分别绕有纵向磁场线圈及引出端头、感应线圈及引出端头、补偿感应线圈及引出端头、微分磁化线圈及引出端头和电感测量线圈及引出端头,在样品盒的底端还设置有与被测样品相连用来夹紧被测样品及挂砝码托盘的砝码夹钩。
所述的纵向磁场线圈的两个端头从中间分开穿套在样品盒上。
所述的中心装置上还设置有样品盒固定板,所述的样品盒固定板)的中心开有与样品盒的上端部大小相同的开口,所述的样品盒的上端部固定镶嵌在样品盒固定板的开口中,而所述的样品盒固定板通过开口两侧的固定孔固定在位于仪器主体框架上面的仪器主面板上。
所述的仪器主面板包括有:中间形成有通孔的面板;通过支撑杆被支撑在面板上方的支撑梁;设置在支撑梁上用于固定被测样品的样品夹;设置在面板一侧的测量接线柱;还设置有用于固定中心装置的中心装置固定螺栓。
所述的测量接线柱包括有纵向磁场线圈、感应线圈、补偿感应线圈、微分磁化线圈和电感测量线圈的接线柱。
本发明的测量的多功能软磁材料测量装置,结构简单,操作简便,测量快速,结果精确。而且实现了使用一台仪器测量同一带状软磁材料样品的四个磁性参数:初始磁导率,饱和磁感应强度,磁各向异性常数和磁致伸缩系数。
附图说明
图1是仪器主体框架的结构示意图;
图2是中心装置的结构示意图;
图3是样品盒与样品盒固定板结合的局部结构示意图;
图4是仪器主面板的结构示意图;
图5是纵向磁场线圈示意图;
图6是本发明的整体结构示意图。
其中:
1:仪器主体框架 2:中心装置
3:仪器主面板 4:被测样品
11:中空通路 12:上面板
13:托板 14:底盘
15:丝杠 16:磁化线圈
17:圆水准器 18:脚螺旋
21:样品盒 22:纵向磁场线圈
23:感应线圈 24:补偿感应线圈
25:微分磁化线圈 26:电感测量线圈
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