[发明专利]n型硅光辅助电化学腐蚀装置无效
| 申请号: | 200810050598.X | 申请日: | 2008-04-15 |
| 公开(公告)号: | CN101285209A | 公开(公告)日: | 2008-10-15 |
| 发明(设计)人: | 王国政;李野;端木庆铎 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
| 主分类号: | C25F3/12 | 分类号: | C25F3/12 |
| 代理公司: | 长春科宇专利代理有限责任公司 | 代理人: | 马守忠 |
| 地址: | 130022吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 型硅光 辅助 电化学 腐蚀 装置 | ||
1、一种n型硅光辅助电化学腐蚀装置,由电化学池(1)、工作电极(5)、参考电极(6)、辅助电极(7)以及光源(8)组成;在电化学池(1)中盛有腐蚀液(2);在电化学池(1)的侧壁上开孔,硅片(3)贴附于开孔处;工作电极(5)与硅片(3)的欧姆接触层(4)接触,参考电极(6)、辅助电极(7)置于腐蚀液(2)中,辅助电极(7)与硅片(3)相对,参考电极(6)位于辅助电极(7)与硅片(3)之间;光源(8)照射硅片(3)的欧姆接触层(4)一侧,其特征在于,光源(8)采用发光二极管或者半导体激光器,发射波长在700nm~1100nm之间。
2、根据权利要求1所述的光辅助电化学腐蚀装置,其特征在于,光源(8)采用发光二极管时,指的是单管发光二极管或者发光二极管面阵;光源(8)采用半导体激光器时,指的是单管半导体激光器或者半导体激光器列阵。
3、根据权利要求1、2所述的光辅助电化学腐蚀装置,其特征在于,光源(8)的电源功率在0.1W~100W之间。
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