[发明专利]光学级单面长石英晶体生长工艺无效

专利信息
申请号: 200810016018.5 申请日: 2008-05-08
公开(公告)号: CN101319374A 公开(公告)日: 2008-12-10
发明(设计)人: 刘盛浦 申请(专利权)人: 刘盛浦
主分类号: C30B29/18 分类号: C30B29/18;C30B7/10
代理公司: 泰安市泰昌专利事务所 代理人: 陈存海
地址: 271500山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 光学 单面 石英 晶体生长 工艺
【权利要求书】:

1.一种光学级单面长石英晶体生长工艺,首先清洗籽晶、石英石原料,配制去离子水及生长液,用去离子水清洗高压釜并用隔膜泵抽干,然后在清洗好的釜内放入装有石英石的原料筐,注入已配制好的生长液和挂有籽晶的籽晶架,量好液面,将釜口密封,再启动控温系统,加热高压釜,对密封的高压釜调整温度、压力、时间参数,使石英晶体生长成型,其特征在于:

a、籽晶选光学级石英晶体脉理为A级;

b、籽晶片Z方向一边用铁片阻挡,并将籽晶片和铁片粘连横放在籽晶架上;

c、生长液由当量浓度为1.3±0.05mol/L的NaOH和当量浓度均为0.07±0.01mol/L的LiOH·H2O和NaNO2组成;

d、釜内填充度满足V=(V釜内总体积-V原料筐体积-V籽晶架体积-V原料体积-V籽晶体积)×(83.5-84.5)%;

e、高压釜加热

在生长区自上而下设置测温点T1和T2,在溶解区自上而下设置测温点T3、T4和T5,升温阶段的温度与时间参数,每个测温点温度范围控制在±3℃,时间参数范围控制在±1小时,在选择的每一具体工艺中,每一测温点温度精度控制在±0.1℃:

T1:生长区第一点温度开始为室温,在6小时内升至100℃,在14小时内升至250℃,此时恒温6小时,在10小时内升至320℃,6小时内升至330℃,10小时内升至335℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度340℃;

T2:生长区第二点温度开始为室温,在6小时内升至105℃,在14小时内升至255℃,此时恒温6小时,在10小时内升至325℃,6小时内升至335℃,10小时内升至337℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度340℃;

T3:溶解区第一点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至270℃,此时恒温6小时,在10小时内升至340℃,6小时内升至350℃,10小时内升至360℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度375℃;

T4:溶解区第二点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至270℃,此时恒温6小时,在10小时内升至340℃,6小时内升至350℃,10小时内升至360℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度375℃;

T5:溶解区第三点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至275℃,此时恒温6小时,在10小时内升至345℃,6小时内升至355℃,10小时内升至365℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度380℃;

f、高压釜内压力在恒温阶段控制在160±10MPa。

2.根据权利要求1所述的光学级单面长石英晶体生长工艺,其特征是:将籽晶片Z方向一边用铁片阻挡并将籽晶片和铁片粘连横放在籽晶架上的同时,还将籽晶片正X方向用铁片阻挡。

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