[发明专利]光学级单面长石英晶体生长工艺无效
| 申请号: | 200810016018.5 | 申请日: | 2008-05-08 |
| 公开(公告)号: | CN101319374A | 公开(公告)日: | 2008-12-10 |
| 发明(设计)人: | 刘盛浦 | 申请(专利权)人: | 刘盛浦 |
| 主分类号: | C30B29/18 | 分类号: | C30B29/18;C30B7/10 |
| 代理公司: | 泰安市泰昌专利事务所 | 代理人: | 陈存海 |
| 地址: | 271500山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 单面 石英 晶体生长 工艺 | ||
1.一种光学级单面长石英晶体生长工艺,首先清洗籽晶、石英石原料,配制去离子水及生长液,用去离子水清洗高压釜并用隔膜泵抽干,然后在清洗好的釜内放入装有石英石的原料筐,注入已配制好的生长液和挂有籽晶的籽晶架,量好液面,将釜口密封,再启动控温系统,加热高压釜,对密封的高压釜调整温度、压力、时间参数,使石英晶体生长成型,其特征在于:
a、籽晶选光学级石英晶体脉理为A级;
b、籽晶片Z方向一边用铁片阻挡,并将籽晶片和铁片粘连横放在籽晶架上;
c、生长液由当量浓度为1.3±0.05mol/L的NaOH和当量浓度均为0.07±0.01mol/L的LiOH·H2O和NaNO2组成;
d、釜内填充度满足V液=(V釜内总体积-V原料筐体积-V籽晶架体积-V原料体积-V籽晶体积)×(83.5-84.5)%;
e、高压釜加热
在生长区自上而下设置测温点T1和T2,在溶解区自上而下设置测温点T3、T4和T5,升温阶段的温度与时间参数,每个测温点温度范围控制在±3℃,时间参数范围控制在±1小时,在选择的每一具体工艺中,每一测温点温度精度控制在±0.1℃:
T1:生长区第一点温度开始为室温,在6小时内升至100℃,在14小时内升至250℃,此时恒温6小时,在10小时内升至320℃,6小时内升至330℃,10小时内升至335℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度340℃;
T2:生长区第二点温度开始为室温,在6小时内升至105℃,在14小时内升至255℃,此时恒温6小时,在10小时内升至325℃,6小时内升至335℃,10小时内升至337℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度340℃;
T3:溶解区第一点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至270℃,此时恒温6小时,在10小时内升至340℃,6小时内升至350℃,10小时内升至360℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度375℃;
T4:溶解区第二点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至270℃,此时恒温6小时,在10小时内升至340℃,6小时内升至350℃,10小时内升至360℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度375℃;
T5:溶解区第三点温度开始为室温,在6小时内升至120℃,在14小时内升至275℃,此时恒温6小时,在10小时内升至345℃,6小时内升至355℃,10小时内升至365℃,最后缓缓升温20小时达到恒温温度380℃;
f、高压釜内压力在恒温阶段控制在160±10MPa。
2.根据权利要求1所述的光学级单面长石英晶体生长工艺,其特征是:将籽晶片Z方向一边用铁片阻挡并将籽晶片和铁片粘连横放在籽晶架上的同时,还将籽晶片正X方向用铁片阻挡。
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