[发明专利]容器口部缺陷检查方法及装置有效

专利信息
申请号: 200780052565.2 申请日: 2007-04-13
公开(公告)号: CN101646935A 公开(公告)日: 2010-02-10
发明(设计)人: 原田崇 申请(专利权)人: 东洋玻璃株式会社
主分类号: G01N21/90 分类号: G01N21/90;G01B11/30
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 吕林红
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 容器 缺陷 检查 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种容器口部缺陷检查方法,向旋转的容器口部的检查位置 投光,在该检查位置由朝向口部的宽度方向的线传感器接收反射光以 检查容器口部的缺陷,其特征在于,

从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的 线数据,

该数据有超过边信号阈值(EL)的区域,

该区域的宽度比边宽度阈值(EW)大时,以最先达到边信号阈值 (EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为检查门开始位 置地址(GES),

所述区域的宽度比所述边宽度阈值(EW)小,在所述区域之外, 还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,以该第2区域的最先达 到边信号阈值(EL)的地址(GE)加上预定的偏移值(OFS)后的地址作为 检查门开始位置地址(GES),

将从所述检查门开始位置地址(GES)到用任意的方式求得的检 查门结束位置地址(GEE),作为进行检查的范围、即检查门,

在该检查门中,进行顶面细纹或顶面气泡的检查。

2.如权利要求1所述的检查方法,其特征在于,

所述检查门的结束位置地址(GEE)的求得方式是:对所述检查门 开始位置地址(GES)加上预定的检查门宽度值(WID)。

3.如权利要求2所述的检查方法,其特征在于,

所述顶面细纹或顶面气泡的检查通过以下的检查方法进行:

向旋转的容器口部的检查位置投光,在该检查位置由朝向口部的 宽度方向的线传感器接收反射光以进行容器口部的顶面细纹或顶面 气泡检查,

将所述线传感器的各线的线数据A、和相比于该线前进了预定的 差分间隔(FP)的线的线数据B在检查门内进行差分处理,求出该差分 数据比预定的差分阈值(TH)大的数据的单元数,

从所述线数据A开始,顺序地将该操作重复预定的差分实施次 数(VS),

差分实施次数(VS)中的所述单元数的合计、即差分总单元数比预 定的差分单元数阈值(PXL)大时,判定有顶面细纹或顶面气泡的缺陷。

4.如权利要求3所述的检查方法,其特征在于,

进行所述差分处理的两个线数据两者都没有比预定的顶面细纹、 顶面气泡判定值(TAL)大的数据时,判定为顶面细纹;所述两个线数 据中的至少一个有比所述顶面细纹、顶面气泡判定值(TAL)大的数据 时,判定为顶面气泡。

5.如权利要求1~4中任一项所述的检查方法,其特征在于,

从所述口部的内侧方向向外侧方向搜索所述线传感器的各线的 线数据,

该数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时,

或者该数据有超过边信号阈值(EL)的区域,该区域的宽度比边宽 度阈值(EW)小,此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,

或者该数据有超过边信号阈值(EL)的区域,该区域的宽度比边宽 度阈值(EW)小,此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域,该第 2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时,进行顶面起伏的检查。

6.如权利要求5所述的检查方法,其特征在于,

所述顶面起伏的检查,

当线数据没有超过边信号阈值(EL)的区域时,

或者线数据有超过边信号阈值(EL)的区域,该区域的宽度比边宽 度阈值(EW)小,此外没有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域时,

或者线数据有超过边信号阈值(EL)的区域,该区域的宽度比边宽 度阈值(EW)小,此外还有超过所述边信号阈值(EL)的第2区域,该第 2区域的宽度比顶面起伏检测宽度TW小时,

将该线作为检测线进行计数,

取入预定的次数(N次)的线数据后的被计数的所述检测线的数目 的合计比预定的顶面起伏阈值(TWL)多时,判定为预面起伏。

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