[发明专利]能量分辨探测系统和成像系统

权利要求书

1、一种用于探测辐射(4)的能量分辨探测系统，所述探测系统包括：

-第一层(21；421)，其用于吸收所述辐射(4)的一部分，

-辐射量子计数单元(26；426；437)，其包括用于对所述辐射(4)的辐射量子进行计数的第二层(26；426)，

-读出单元(29；429)，其与所述辐射量子计数单元(26；426；437)相耦合以便读出所述辐射量子计数单元(26；426；437)，

其中，对所述第一层(21；421)以及所述第二层(26；426)进行布置，从而使得入射在所述探测系统上并到达所述第二层(26；426)的所述辐射(4)已经通过所述第一层(21；421)。

2、如权利要求1所述的能量分辨探测系统，

其中，所述第二层(26)包括用于将辐射转换成电信号的直接转换材料，并且

其中，所述读出单元(29)与所述第二层(26)相耦合以便通过读出所述第二层(26)的所述电信号来读出所述第二层(26)。

3、如权利要求1所述的能量分辨探测系统，

其中，所述第一层(21；421)包括闪烁体材料，并且其中，所述能量分辨探测系统还包括用于探测在所述第一层(21；421)中生成的光的光探测单元(23a，23b；423a，423b)。

4、如权利要求3所述的能量分辨探测系统，

其中，将所述光探测单元(23a，23b；423a，423b)布置为在垂直于所述辐射(4)的入射方向的方向上探测在所述第一层(21；421)中生成的光。

5、如权利要求3所述的能量分辨探测系统，

其中，对所述光探测单元(23a，23b；423a，423b)进行屏蔽以便减少所述光探测单元(23a，23b；423a，423b)对入射在所述探测系统上的所述辐射(4)的直接探测。

6、如权利要求1所述的能量分辨探测系统，

其中，将与所述第二层(26)面向所述第一层(21)的第一表面相对的所述第二层(26)的第二表面耦合至多个电极(28)，其中，每一个电极(28)都与所述读出单元(29)相耦合，从而使得可以彼此独立地读出所述电极(28)。

7、如权利要求3所述的能量分辨探测系统，

其中，所述读出单元(29；429)耦合至所述光探测单元(23a，23b；423a；423b)以便读出由所述光探测单元(23a，23b；423a，423b)生成的电信号。

8、如权利要求1所述的能量分辨探测系统，

其中，所述第二层(426)包括用于根据到达所述第二层(426)的所述辐射生成光信号的闪烁体材料，

其中，所述辐射量子计数单元(426；437)包括用于探测在所述第二层(426)中生成的所述光信号的快速光探测单元(437)，

其中，所述读出单元(429)与所述快速光探测单元(437)相耦合以便读出所述快速光探测单元(437)。

9、如权利要求1所述的能量分辨探测系统，

其中，所述能量分辨探测系统包括多个探测像素单元(20；420)的布置，其中，每一个探测像素单元(20；420)包括

-分离的第一层(21；421)，其用于吸收所述辐射(4)的一部分，

-分离的辐射量子计数单元(26；426，437)，其包括用于对所述辐射(4)的辐射量子进行计数的第二层(26；426)，

其中，对每一个探测像素单元(20；420)的所述第一层(21；421)和所述第二层(26；426)进行布置，从而使得入射在所述探测系统上并到达所述第二层(26；426)的所述辐射(4)已经通过所述第一层(21；421)，

其中，所述读出单元(29；429)耦合至每一个探测像素单元(20；420)的所述辐射量子计数单元(26；426，437)以便彼此独立地读出所述多个探测像素单元(20；420)的所述分离的辐射量子计数单元(26；426，437)。

10、一种包括权利要求1中所定义的能量分辨探测系统的成像系统。

11、一种用于产生用于探测辐射(4)的能量分辨探测系统的方法，所述方法包括以下步骤：

-提供用于吸收所述辐射(4)的一部分的第一层(21；421)，

-提供包括用于对所述辐射(4)的辐射量子进行计数的第二层(26；426)的辐射量子计数单元(26；426，437)，

-提供用于读出所述辐射量子计数单元(26；426，437)的读出单元(29；429)，

-对所述第一层(21；421)和所述第二层(26；426)进行布置，从而使得入射在所述探测系统上并到达所述第二层(26；426)的所述辐射(4)已经通过所述第一层(21；421)，

-将所述读出单元(29；429)与所述辐射量子计数单元(26；426，437)相耦合以便读出所述辐射量子计数单元(26；426，437)。