[发明专利]在多个处理器/核的测试与调试进程期间控制电源、时钟和复位的装置和方法

权利要求书

1.一种控制处理器/核的参数的装置，该装置包括：

耦合到所述处理器/核的状态机，所述状态机控制所述处理器/核的所 选参数，所述状态机识别所述处理器/核的所选参数。

耦合到所述状态机的逻辑单元，所述逻辑单元提供迫使所述状态机 进入预定状态以响应测试与调试进程的控制信号，所述预定状态具有所 选参数。

2.根据权利要求1所述的装置，其中所选参数包括至少一个所述处 理器/核的电源和时钟参数，所述装置包括：

响应第一测试指令的所述逻辑单元，所述逻辑单元产生第一控制信 号；和

耦合到所述处理器/核的所述状态机，所述状态机确定至少一个所述 电源和时钟参数，其中所述第一控制信号迫使状态机进入预先选择的状 态。

3.根据权利要求1或2所述的装置，进一步包括耦合到所述逻辑单 元的寄存器单元，所述寄存器存储至少一个所述状态机的所述状态的选 择的参数。

4.根据权利要求3所述的装置，其中测试命令由测试单元产生，其 中至少一个参数从所述寄存器单元传送给所述测试单元以响应第二测试 命令，所述第一控制信号被产生以响应所述至少一个参数。

5.根据权利要求2所述的装置，进一步包括耦合到所述处理器/核的 开关单元，所述开关单元具有施加给所述开关单元的一输入端的复位信 号，所述复位信号被施加给所述处理器/核以响应来自所述逻辑单元的第 二控制信号。

6.根据权利要求1或2所述的装置，其中所述进程是JTAG进程。

7.根据权利要求1或2所述的装置，其中所述处理器/核包括一TAP 单元，所述装置进一步包括耦合到所述TAP单元的所述状态机的开关单 元，所述开关单元具有施加给一输入端的复位信号，所述开关单元将所 述复位信号施加给所述TAP单元状态机以响应来自所述逻辑单元、所述 控制信号被产生以响应测试与调试信号。

8.根据权利要求7所述的装置，进一步包括一接口TAP单元，所述 接口TAP单元接收测试与调试信号，所述接口TAP单元将命令信号施加 给所述逻辑单元，所述命令信号导致控制信号的产生。

9.根据权利要求8所述的装置，其中存储在所述寄存器单元的一选 择的参数被传送给测试与调试单元以响应来自所述测试与调试进程且施 加给所述接口TAP单元的命令信号。

10.一种控制处理器/核的选择的参数的方法，所述方法包括：

响应测试与调试命令产生一控制信号，该信号强行控制耦合到所述 处理器/核的所述状态机的状态，产生的所述状态机的状态控制所述处理 器/核至少一个选择的参数。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述产生一控制信号包括：

将所述测试与调试命令施加给一接口TAP单元；以及

将所述测试与调试命令传送给所述逻辑单元。

12.根据权利要求10或11所述的方法，进一步包括将来自所述状态 机的一状态所得的所述处理器/核的预选参数存储在一寄存器单元中。

13.根据权利要求12所述的方法，进一步包括：

为响应来自测试单元并被施加给一接口TAP单元的一命令信号，将 所述命令信号施加给所述逻辑单元；以及

将来自所述寄存器单元的预选参数传送给所述测试单元。

14.根据权利要求13所述的方法，其中所述命令信号强行控制所述 状态机的状态由所述寄存器单元的所述预选参数来确定。