[发明专利]光盘装置无效

专利信息
申请号: 200780013072.8 申请日: 2007-03-19
公开(公告)号: CN101421785A 公开(公告)日: 2009-04-29
发明(设计)人: 西胁青儿;百尾和雄;麻田润一 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09;G11B7/135
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 杨 谦;胡建新
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光盘 装置
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种用于在光盘中记录信号或者再生记录在光盘中的信号的光盘装置。

背景技术

以往,作为这种光盘装置已经知道有例如专利文献1中公开的装置。在此,参照图8~图10说明以该现有示例为原型略微施加修改后的装置。

图8(a)是表示现有技术的光盘装置的侧视图,图8(b)是表示在该光盘装置中使用的光栅面上形成的光栅图案和该光栅面上的光分布状态的图,图8(c)是表示光盘的信号面的结构和该信号面上的光分布状态的图。

如图8所示,从半导体激光器等放射光源1射出的激光2顺序透射透明基板3、偏振光束分离器4的分离面4a,然后由准直透镜5聚光而成为平行光。该平行光通过1/4波长板6被从直线偏振光(P波)转换为圆偏振光,然后由物镜7聚光并在光盘8的信号面8a上聚焦(连接光点)。在光盘8的信号面8a上,在光盘8的径方向(以下称为“光盘径方向”)以相等节距形成沿着光盘8的旋转方向(以下称为“光盘旋转方向”)的引导槽8a。在光盘8的信号面8a反射后的光透射物镜7并由1/4波长板6转换为直线偏振光(S波),然后经由准直透镜5成为聚焦性的光。该聚焦性的光在偏振光束分离器4的分离面4a反射,然后透射筒形透镜9并入射位于最小弥散圆附近(纵焦线与横焦线的中间位置)的光检测基板10上的光检测面10a,该筒形透镜9被配置成为使其圆柱面的中心轴相对于与纸面平行的面倾斜45度。

在透明基板3的表面(光栅面3a)形成有以对应光盘旋转方向的轴3Y为边界的直线光栅3b和直线光栅3c。并且,从放射光源1射出并透射透明基板3的光(透射光)在光栅面3a上的光点的形状为以光栅面3a的中心30为中心的圆2a。各个光栅的方位与轴3Y正交,直线光栅3b与直线光栅3c的光栅的相位错开π(移位)。透射透明基板3的光(透射光)经由直线 光栅3b与直线光栅3c衍射,除0次衍射光(直接透射的光)以外,产生±1次衍射光(以下把经由光栅形成的衍射光称为“Gr衍射光”)。0次Gr衍射光的波阵面不受光栅的影响,所以没有相位的变化,但±1次Gr衍射光的波阵面以轴3Y为边界,相位在左右移位π。这些Gr衍射光在光盘8的信号面8a上连接光点。并且,在跟踪控制时,对应于0次Gr衍射光的光点2b位于引导槽8g的正上方,对应于±1次Gr衍射光的光点2b’、2b”分别成为以引导槽8g为中心分离到光盘径方向的两个光点。光点2b’、2b”分别成为两个,这是由于±1次Gr衍射光的波阵面以中心轴3Y为边界而相位在左右移位π。另外,直线光栅3b和直线光栅3c的衍射效率被设定为使光点2b’、2b”的光量分别达到光点2b的光量的1/10左右。

图9(a)是表示现有技术的光盘装置中使用的光检测面的结构与该光检测面上的光分布状态的图,图9(b)是表示入射该光盘装置中使用的筒形透镜之前的光束的图。入射筒形透镜9之前的光束2c、2c’、2c”分别对应于光盘8的信号面8a上的光点2b、2b’、2b”。经由光盘8的引导槽8g形成的衍射光2cp、2cm,以沿着对应光盘径方向的轴9X移位的形式重叠在0次Gr衍射光2c上(以下把经由引导槽形成的衍射光称为“槽衍射光”)。±1次Gr衍射光2c’、2c”的0次槽衍射光以与光盘旋转方向平行的轴9Y为边界,使相位移位π,±1次衍射光以保持着该移位π的状态并沿轴9X移位的形式重叠在0次槽衍射光上。光检测面10a上的光点2d、2d’、2d”分别对应于入射筒形透镜9之前的光束2c、2c’、2c”。光束2c、2c’、2c”透射筒形透镜9,从而光分布相对筒形透镜9的圆柱面的中心轴翻转,所以光检测面10a上的光点2d、2d’、2d”成为相对光束2c、2c’、2c”整体旋转90度后的光分布(不仅光分布,物镜7的透镜移位(以下也把物镜的透镜移位简称为“透镜移位”)时的光点的移动方向也旋转90度)。在光检测面10a上配置有分别与光点2d、2d’、2d”大致同轴的光检测器11、11’、11”。光检测器11、11’、11”分别被与轴9X、9Y平行的直线(其中,把与轴9Y平行的直线设为10X)分割为4个检测单元(分别为检测单元11a、11b、11c、11d,检测单元11a’、11b’、11c’、11d’和检测单元11a”、11b”、11c”、11d”),分割线的交点与各个光点2d、2d’、2d”的中心大致一致。

在图9中,可以通过各个检测单元获得以下12个信号(检测信号)。

T1=由检测单元11a得到的信号

T2=由检测单元11b得到的信号

T3=由检测单元11c得到的信号

T4=由检测单元11d得到的信号

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