[发明专利]光学扫描设备和使用其的图像形成装置有效
| 申请号: | 200710305402.2 | 申请日: | 2007-12-26 |
| 公开(公告)号: | CN101211010A | 公开(公告)日: | 2008-07-02 |
| 发明(设计)人: | 下村秀和 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
| 主分类号: | G02B26/10 | 分类号: | G02B26/10;G03G15/00 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 康建忠 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 光学 扫描 设备 使用 图像 形成 装置 | ||
1.一种光学扫描设备,该光学扫描设备包括:
光源装置;
偏转装置,具有偏转表面;
入射光学系统,被配置为将从所述光源装置发射的光束导向所述偏转装置上;
成像光学系统,被配置为将由所述偏转装置的偏转表面扫描地偏转的光束成像在待扫描表面上,所述成像光学系统具有至少一个透射型的成像光学元件;以及
至少一个反射型光学元件,其具有反射表面并被放置在所述至少一个成像光学元件与待扫描表面之间的光路上;
其中,所述至少一个成像光学元件具有第一至第四透射表面,并被配置为使得由所述偏转装置的偏转表面扫描地偏转的光束按照从第一透射表面到第二透射表面的顺序通过所述至少一个成像光学元件,并且在被所述至少一个反射型光学元件的反射表面反射之后,该光束随后按照从第三透射表面到第四透射表面的顺序再次通过所述至少一个成像光学元件,
其中光束再次通过的所述至少一个成像光学元件在主扫描截面内具有轴向合成屈光力,同时所述至少一个反射型光学元件的反射表面在反射表面的主扫描截面内具有轴向合成屈光力M,所述轴向合成屈光力满足以下关系式:
|M/|<0.1
并且,
其中光束再次通过的所述至少一个成像光学元件的轴向合成屈光力包括四个光学表面的合成屈光力,所述四个光学表面包括被所述偏转装置的偏转表面扫描地偏转的光束入射到其上的第一透射表面、通过第一透射表面的光束入射到其上的第二透射表面、由所述至少一个反射型光学元件的反射表面反射的光束入射到其上的第三透射表面以及通过第三透射表面的光束入射到其上的第四透射表面。
2.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,所述反射型光学元件或全部反射型光学元件由平面反射镜构成。
3.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,当以W(mm)表示扫描表面上的图像在主扫描方向上的有效宽度,以L(mm)表示从距扫描表面光学上最远的所述或一个反射型光学元件到扫描表面的距离,并且以α(度)表示在主扫描截面内且在入射到扫描表面上的图像端部上的光束的主光线与垂直于扫描表面的法线之间限定的角度时,满足以下关系式:
20°<α·W/L<100°。
4.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,所述光学扫描设备仅具有光束再次通过的一个透射型成像光学元件。
5.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,光束再次通过的所述成像光学元件在偏转装置侧的表面具有这样的形状,该形状具有关于副扫描截面的不同屈光力,该屈光力在由所述偏转装置的偏转表面偏转的光束通过的位置与由所述至少一个反射型光学元件的反射表面反射的光束通过的位置之间不同。
6.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,光束再次通过的所述成像光学元件的第一透射表面和第三透射表面在主扫描截面中的形状是基于一个函数而限定的,并且其中,所述成像光学元件的第二透射表面和第四透射表面在主扫描截面中的形状是基于一个函数而限定的。
7.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,光束再次通过的所述成像光学元件的第一透射表面和第二透射表面在主扫描截面中具有轴向合成屈光力L,而光束再次通过的所述成像光学元件的第一透射表面在主扫描截面中具有轴向屈光力1,并且其中满足以下关系式:
-2.0<1/L<0.5。
8.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,光束再次通过的所述成像光学元件具有主扫描截面中的曲率符号在有效直径内被反转的表面。
9.根据权利要求8所述的光学扫描设备,其中,所述成像光学元件的带反转符号的表面具有向偏转装置侧凸出的轴向形状。
10.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,当以Sk(mm)表示主扫描截面中从所述成像光学系统的后主平面到扫描表面的距离,以f(mm)表示所述成像光学系统在主扫描截面内的焦距,并且m=1-Sk/f时,满足以下关系式:
-0.1<m<0.5。
11.根据权利要求1所述的光学扫描设备,其中,在副扫描截面内,来自所述入射光学系统的光束垂直入射到所述偏转装置的偏转表面上。
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