[发明专利]测试磁盘驱动器的磁盘介质上的伺服数据的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及硬盘驱动器。更具体地，本发明涉及对计算用于伺服控制的RRO校正值的方法的改进。

背景技术

在大多数磁盘驱动器中，其中一个有代表性的例子是硬盘驱动器，依照在磁盘介质，即数据记录介质上记录的伺服数据(伺服图形(servopattern))控制磁头的定位。也就是说，依照所述磁头已经读出的所述伺服数据，将所述磁头移动到所述磁盘介质上的目标位置(即，目标磁道)。每一个磁头在磁盘介质上的所述目标位置写入或读出数据。

在被包括在所述磁盘驱动器的制造过程中的伺服写入部分，将所述伺服数据记录在磁盘介质上。近来，一种写入伺服数据的方法已经被提出，其能够有效地写入伺服数据。在这种方法中，以被用作基本图形的螺旋伺服图形或多螺旋伺服图形的形式将所述伺服数据记录在所述磁盘介质上。通过利用所述基本图形，伺服数据，即，同心伺服图形，被写入所述磁盘介质。(参见，例如，USP 5,668,697和USP 6,965,486B1。)

所述同心伺服图形由在所述磁盘介质的圆周方向上以规则间隔布置在一个磁道上的多个伺服扇区组成。所述同心伺服图形意味着由这些伺服扇区组成的许多伺服磁道。在每一个伺服扇区中记录了包含所述磁道和扇区的地址码以及伺服脉冲模式(servo-burst pattern)的伺服数据。

在所述伺服写入部分中，由于所述磁盘介质旋转时的摆动，这也被称为磁盘偏离(run-out)或可重复偏离(RRO)，伺服数据被写入为变形的同心磁道，而非理想的同心磁道。所述磁道的这种变形被称作伺服磁道写入RRO(STW-RRO)。如果使用被记录在这种变形的伺服磁道中的伺服数据，在数据的读/写中将所述磁头定位于所述目标磁道时可能出现大的误差，或用户数据被记录在其中的数据磁道可能被以不均匀的间距布置。

每当通过利用从所述磁盘介质再生的伺服数据来控制磁头位置时，为了防止这种磁头定位错误或这种不均匀的数据磁道间距，磁盘驱动器的所述伺服系统(更精确地，所述磁盘驱动器的主控制器，即CPU)进行利用用于抑制STW-RRO的STW-RRO校正值的校正处理。(在下文中，所述STW-RRO校正值将被称为校正值。)结果，所述磁头能够跟从几乎与所要的一样同心的数据磁道，由此能够高精度地读写所述用户数据。

在磁盘驱动器的制造过程中，在已经将所述伺服数据写入各磁盘介质中之后，执行一种所谓的自运行测试。该测试包括伺服数据测试。在所述伺服数据测试中，在已经将所述磁盘介质并入到将被组装为产品的磁盘驱动器中之后，进行所述磁头定位控制，其中在所述伺服写入部分中每一个磁盘介质都具有伺服数据记录在其上。

一种获取校正值的方法已经被提出用于上述自运行测试中。该方法通过反复计算获得校正值。(参见，例如，USP 6,061,220和USP 6,529,362。)在这种方法中，被包括在各个磁头中的读磁头从一个磁盘介质上的各个伺服扇区读出伺服数据，并且计算被反复进行，从而提供能够抑制STW-RRO的校正值以使得所述磁头跟从非常近似于理想同心磁道的数据磁道。

因此，在所述自运行测试中用于抑制所述STW-RRO的校正值被计算。如此计算出的所述校正值可以被记录在，例如，在所述磁盘介质上设置的伺服扇区中。于是，在所述磁头定位控制期间，所述STW-RRO能够被补偿。

然而，因为每一个磁盘介质具有许多磁道，在所述自运行测试中计算校正值需要很长的时间。所需的时间很长，特别是由于高记录密度的介质，其具有大量的磁道。计算所述校正值的处理将是使所述磁盘驱动器的制造过程延长的一个因素。

发明内容

本发明的目的是缩短在磁盘驱动器的所述自运行测试中计算校正值所需的时间，从而提高制造所述磁盘驱动器的效率。

根据本发明的一个方面的磁盘驱动器包括：写入和读出数据的磁头；具有基本上同心的伺服磁道的磁盘介质，每一个磁道由多个伺服扇区形成，在其中伺服数据被记录用于所述磁头的定位控制；磁头移动机构，其被配置为在所述磁头的定位控制期间将所述磁头移动到所述磁盘介质上的指定位置；计算单元，其利用所述磁头已经从所述磁盘介质读出的伺服数据，从而计算用于在所述磁头的定位控制期间抑制与所述磁盘介质的旋转同步的变化的校正值；计算控制单元，其控制所述计算单元，并使得所述计算单元为已指定的伺服磁道之一计算校正值，并将如此计算出的校正值存储到存储单元中；以及控制器，其利用从所述存储单元读出的所述伺服数据和所述校正值，从而控制所述磁头移动机构并将所述磁头定位于已指定的伺服磁道。

附图说明