[发明专利]光学拾取器和具有该光学拾取器的盘装置

权利要求书

1.一种用于向具有多个记录层的光盘记录数据和/或从其重现数据的光学拾取器，包括：

光源，用以发出具有与光盘的类型对应的波长的光；

集光单元，用于聚焦从光源发出的光以在光盘的信号记录层上形成光斑；

光检测器，用以接收由光盘的信号记录层所反射的信号光和由不同于该信号记录层的相邻记录层所反射的噪声光，并用以从信号光中检测信号；以及

光学构件，用以根据噪声光的入射角改变噪声光的光学透射率，以便在不阻挡信号光的情况下降低进入光检测器的噪声光的强度。

2.如权利要求1所述的光学拾取器，其中该光盘为蓝光盘，并且该光源发出具有满足蓝光光盘标准的波长的光。

3.如权利要求1所述的光学拾取器，其中集光单元包括具有大约0.85的数值孔径的物镜。

4.如权利要求1所述的光学拾取器，还包括：

光路转换器，用于将从该光源发出的光引导到该集光单元，并用于将信号光引导到该光检测器，其中

所述光学构件被提供在光路转换器和集光单元之间。

5.如权利要求4所述的光学拾取器，其中：

所述光路转换器包括用于使从光源发出的光准直的准直透镜；以及所述光学构件被提供在准直透镜和集光单元之间。

6.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述光学构件包括涂敷层，该涂敷层用于透射由光盘反射并垂直进入该涂敷层的光、并拦截要会聚或发散的入射光，以便根据入射光的入射角改变入射光的光学透射率。

7.如权利要求1所述的光学拾取器，其中信号光垂直进入该涂敷层，并且噪声光由该涂敷层拦截。

8.如权利要求6所述的光学拾取器，其中所述涂敷层包括二氧化硅(SiO₂)和氟化镁(MgF₂)。

9.如权利要求6所述的光学拾取器，其中该涂敷层具有在大约5纳米和100纳米之间的厚度。

10.如权利要求6所述的光学拾取器，其中该涂敷层具有0.01度的分辨率。

11.如权利要求1所述的光学拾取器，还包括：

光栅，用于将从光源发出的光分成第0级光和第±1级光以投射到光盘上，从而信号光包括第0级信号光和第±1级信号光而噪声光包括第0级噪声光，其中：

所述光检测器包括用于接收第0级信号光的主光检测器和用于分别接收第±1级信号光的第一次光检测器和第二次光检测器；以及

所述光学构件降低第0级噪声光的光学透射率以减小由第一次光检测器和第二次光检测器接收的第0级噪声光的强度。

12.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述光学构件降低噪声光的光学透射率，使得噪声光的强度小于信号光的强度。

13.如权利要求1所述的光学拾取器，其中所述信号记录层是要在其上记录和/或重现数据的层。

14.一种盘装置包括：

光学拾取器，用于向具有多个记录层的光盘的信号记录层记录数据和/或从其重现数据；

驱动单元，用于驱动该光学拾取器；以及

控制器，用于控制该光学拾取器的聚焦伺服和跟踪伺服，

其中该光学拾取器包括用以降低由不同于信号记录层的相邻记录层所反射的噪声光的光学透射率的光学构件，以便根据噪声光的入射角来减小噪声光的强度。

15.如权利要求14所述的盘装置，其中该光盘为蓝光盘。

16.如权利要求14所述的盘装置，其中所述光学构件降低噪声光的光学透射率，使得噪声光的强度小于由信号记录层反射的信号光的强度。

17.如权利要求14所述的盘装置，其中光学构件包括用于透射由光盘反射且垂直地进入该涂敷层的光、并拦截要会聚或发散的入射光的涂敷层，以根据入射光的入射角改变入射光的光学透射率。

18.如权利要求17所述的盘装置，其中该涂敷层包括二氧化硅(SiO₂)和氟化镁(MgF₂)。

19.如权利要求17所述的盘装置，其中所述涂敷层具有在大约5纳米到100纳米之间的厚度。