[发明专利]像素结构的制作方法无效
| 申请号: | 200710181843.6 | 申请日: | 2007-10-19 |
| 公开(公告)号: | CN101140913A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
| 发明(设计)人: | 林汉涂;杨智钧;黄明远;石志鸿;廖达文;蔡佳琪 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/768;H01L21/336;H01L21/28;H01L21/268;G02F1/1362 |
| 代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈晨 |
| 地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 像素 结构 制作方法 | ||
技术领域
本发明是涉及一种像素结构的制作方法,且特别是涉及一种使用激光剥离工艺(laser ablation process)制作像素结构的制作方法。
背景技术
显示器为人与信息的沟通界面,目前以平面显示器为主要发展的趋势。平面显示器主要有以下几种:有机电激发光显示器(organicelectroluminescence display)、等离子体显示器(plasma display panel)以及薄膜晶体管液晶显示器等(thin film transistor liquid crystal display),其中又以薄膜晶体管液晶显示器的应用最为广泛。一般而言,薄膜晶体管液晶显示器主要由薄膜晶体管阵列基板(thin film transistor array substrate)、彩色滤光阵列基板(color filter substrate)和液晶层(liquid crystal layer)所构成,其中薄膜晶体管阵列基板包括多条扫描线(scan lines)、多条数据线(data lines)以及多个阵列排列的像素结构(pixel unit),且各个像素结构分别与对应的扫描线及数据线电性连接。
图1A至图1G为公知像素结构的制作方法示意图。请参照图1A,首先提供基板10,并通过第一道光掩模工艺在基板10上形成栅极20。接着,请参照图1B,在基板10上形成栅绝缘层30以覆盖住栅极20。然后,请参照图1C,通过第二道光掩模工艺在栅绝缘层30上形成位于栅极20上方的沟道层40。一般而言,沟道层40的材料为非晶硅(amorphous silicon)。之后,请参照图1D,通过第三道光掩模工艺在沟道层40的部分区域以及栅绝缘层30的部分区域上形成源极50以及漏极60。由图1D可知,源极50与漏极60分别由沟道层40的两侧延伸至栅绝缘层30上,并暴露出沟道层40的部分区域。接着,请参照图1E,在基板10上形成保护层70以覆盖栅绝缘层30、沟道层40、源极50以及漏极60。然后,请参照图1F,通过第四道光掩模工艺将保护层70图案化,以在保护层70中形成接触孔H。由图1F可知,保护层70中的接触孔H会暴露出漏极60的部分区域。之后,请参照图1G,通过第五道光掩模工艺在保护层70上形成像素电极80,由图1G可知,像素电极80会通过接触孔H与漏极60电性连接。在像素电极80制作完成之后,便完成了像素结构90的制作。
承上述,公知的像素结构90主要是通过五道光掩模工艺来进行制作,换言之,像素结构90需采用五个具有不同图案的光掩模(mask)来进行制作。
由于光掩模的造价十分昂贵,且每道光掩模工艺皆须使用到具有不同图案的光掩模,因此,若无法缩减光掩模工艺的数目,前述公知像素结构的制造成本将无法降低。此外,随着薄膜晶体管液晶显示面板的尺寸日益增加,用来制作薄膜晶体管阵列基板的光掩模尺寸也会随之增加,而大尺寸的光掩模在造价上将更为昂贵,使得公知像素结构的制造成本无法有效地降低。
发明内容
本发明关于一种像素结构的制作方法,其适于降低像素结构的制作成本。
为具体描述本发明的内容,在此提出一种像素结构的制作方法,其先提供基板,并形成第一导电层于基板上。接着,提供第一掩模于第一导电层上方,且第一掩模暴露出部分的第一导电层。使用激光经由第一掩模照射第一导电层,以移除第一掩模所暴露的部分第一导电层,而形成栅极。之后,形成栅绝缘层于基板上,以覆盖栅极,并形成半导体层于栅绝缘层上。接着,提供第二掩模于半导体层上方,且第二掩模暴露出部分的半导体层。使用激光经由第二掩模照射半导体层,以移除第二掩模所暴露的部分半导体层,而形成沟道层。继之,形成第二导电层于沟道层以及栅绝缘层上。接着,提供第三掩模于第二导电层上方,且第三掩模暴露出部分的第二导电层。使用激光经由第三掩模照射第二导电层,以在栅极两侧的沟道层上形成源极以及漏极,其中栅极、沟道层、源极以及漏极构成薄膜晶体管。之后,形成保护层于栅绝缘层与薄膜晶体管上,并提供第四掩模于保护层上方,且第四掩模暴露出部分的保护层。使用激光经由第四掩模照射保护层,以在保护层中形成将漏极暴露的接触开口。之后,形成第三导电层以覆盖保护层,并提供第五掩模于第三导电层上方,且第五掩模暴露出部分的第三导电层。使用激光经由第五掩模照射第三导电层,以使剩余的第三导电层形成像素电极,其中像素电极通过接触开口连接至漏极。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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