[发明专利]最大似然检测器、错误校正电路和介质存储装置有效
| 申请号: | 200710166650.3 | 申请日: | 2007-11-01 |
| 公开(公告)号: | CN101174838A | 公开(公告)日: | 2008-05-07 |
| 发明(设计)人: | 伊东利雄 | 申请(专利权)人: | 富士通株式会社 |
| 主分类号: | H03M13/00 | 分类号: | H03M13/00;H03M13/29;G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 最大 检测器 错误 校正 电路 介质 存储 装置 | ||
1.一种最大似然检测器,该最大似然检测器用于根据输入信号产生解码目标数据串并且将所述解码目标数据串输出到错误校正电路,所述最大似然检测器包括:
检测器,用于根据所述输入信号产生所述解码目标数据串,并且检测所述解码目标数据串中的各个位的似然度;以及
错误候选项提取器,用于接收各个位的所述似然度并且产生错误候选项表,所述错误候选项表用于按所述似然度的顺序存储似然度为预定阈值或更小的位位置,作为所述错误校正电路的选定错误候选项。
2.根据权利要求1所述的最大似然检测器,其中,所述错误候选项提取器包括:
阈值判断部,用于将所述解码目标数据串中的各个位的似然度与预定阈值进行比较,并且提取似然度为预定阈值或更小的位位置;以及
较高候选项选择部,用于产生错误候选项表,所述错误候选项表用于存储所提取的位位置作为选定错误候选项。
3.根据权利要求2所述的最大似然检测器,其中,所述阈值判断部根据多个似然度等级将似然度为确定阈值或更小的所提取的位位置的似然度和位位置存储到堆栈表中。
4.根据权利要求3所述的最大似然检测器,其中,所述较高候选项选择部针对各似然度等级参照所述堆栈表,并且存储所述选定错误候选项的位位置。
5.根据权利要求2所述的最大似然检测器,其中,所述较高候选项选择部将所述似然度的绝对值相同的所述位位置存储到所述错误候选项表中,作为一个选定错误候选项。
6.根据权利要求4所述的最大似然检测器,其中,所述较高候选项选择部针对各似然度等级参照所述堆栈表,将所述堆栈表中似然度等级相对较低的位位置存储在所述错误候选项表中,对所述堆栈表中似然度等级相对较高的位位置进行排序,并将经排序的位位置存储在所述错误候选项表中。
7.根据权利要求1所述的最大似然检测器,其中,所述错误候选项提取器检测到似然度为所述阈值或更小的位连续达预定位数,并且禁止将这些连续的位位置存储在所述表中。
8.根据权利要求1所述的最大似然检测器,其中,所述错误候选项提取器产生具有所提取的位位置的起始位置和错误长度这种格式的表。
9.一种错误校正电路,该错误校正电路包括:
检测器,用于根据输入信号产生解码目标数据串,并且检测所述解码目标数据串中的各个位的似然度;
错误候选项提取器,用于接收各个位的所述似然度并且产生错误候选项表,所述错误候选项表用于按所述似然度的顺序存储似然度为预定阈值或更小的位位置,作为选定错误候选项;以及
校正电路,用于校正所述解码目标数据串的错误并且输出经校正的解码目标数据,
其中,在判断出所述校正失败时,所述校正电路从所述错误候选项表中提取所述错误候选项并且产生新的解码目标数据串。
10.根据权利要求9所述的错误校正电路,其中,所述错误候选项提取器包括:
阈值判断部,用于将所述解码目标数据串中的各个位的似然度与预定阈值进行比较,并且提取似然度为所述预定阈值或更小的位位置;以及
较高候选项选择部,用于产生错误候选项表,所述错误候选项表用于存储所提取的位位置作为所述选定错误候选项。
11.根据权利要求10所述的错误校正电路,其中,所述阈值判断部根据多个似然度等级将似然度为预定阈值或更小的所提取的位位置存储到堆栈表中。
12.根据权利要求11所述的错误校正电路,其中,所述较高候选项选择部针对各似然度等级参照所述堆栈表,并且按所述似然度的顺序存储所述选定错误候选项的位位置。
13.根据权利要求10所述的错误校正电路,其中,所述较高候选项选择部将所述似然度的绝对值相同的所述位位置存储到所述错误候选项表中,作为一个选定错误候选项。
14.根据权利要求12所述的错误校正电路,其中,所述较高候选项选择部针对各似然度等级参照所述堆栈表,将所述堆栈表中似然度等级相对较低的位位置存储在所述错误候选项表中,对所述堆栈表中似然度等级相对较高的位位置进行排序,并将经排序的位位置存储在所述错误候选项表中。
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