[发明专利]一种高精度时钟检测方法及检测装置有效
| 申请号: | 200710127704.5 | 申请日: | 2007-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN101140304A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
| 发明(设计)人: | 曾祥希 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R23/12 | 分类号: | G01R23/12;H04L12/26;H04L7/00 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 518057广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 高精度 时钟 检测 方法 装置 | ||
1.一种高精度时钟检测方法,其特征在于该方法包括如下步骤:
①利用分频器分别对被测时钟和作为标准的基准时钟进行分频,使分频后基准时钟和被测时钟的频率相同;
②利用相位累积单元内的两个相位累积装置对分频后的被测时钟和基准时钟分别进行相位累积;
③利用匹配单元比较两个相位累积装置的状态,查看两个相位累积装置是否失配,失配时初始化相位累积装置,并重新进行相位累积;
④利用计数器单元计算两次失配的时间间隔,即获得累积误差的生成周期;
⑤利用错误输出单元比较累积误差的生成周期与预设阈值的大小,当累积误差生成周期小于或等于预设阈值,由错误输出单元输出被测时钟错误的指示。
2.根据权利要求1所述的高精度时钟检测方法,其特征在于所述步骤①中采用第一时钟分频器分频频率为fx的基准时钟,第二时钟分频器分频频率为f0的被测时钟,其中第一时钟分频器的分频比为m,第二时钟分频器的分频比为n,满足:
fx/n=f0/m。
3.根据权利要求1所述的高精度时钟检测方法,其特征在于所述的步骤②中相位累积的步骤为:
a.确定相位累积单元内所采用的两个相位累积装置;
b.设定所采用相位累积装置的初始值;
c.利用分频后的时钟分别驱动两个相位累积装置,当时钟有效时两个相位累积装置分别进行相位累积。
4.根据权利要求1所述的高精度时钟检测方法,其特征在于所述的步骤③中确定两相位累积装置相位失配的步骤为:
a.分频后的基准时钟和被测时钟频率相同,两个相位累积装置的和或差为定值;
b.匹配单元内预设数值范围,并将该两个相位累积装置的和或差与预设范围进行比较,若预设范围之内,继续进行累积,若超过预设范围,则清零计数器单元,并初始化相位累积单元内的两个相位累积装置。
5.根据权利要求1所述的高精度时钟检测方法,其特征在于所述步骤⑤中的阈值N、匹配单元的范围p和第二时钟分频器的分频比n三个数值满足公式:
N=p*n/S
其中,S为预设定的时钟精度常数。
6.根据权利要求1所述的高精度时钟检测方法,其特征在于所述的步骤⑤中错误输出单元输出被测时钟错误指示的方法为:
a.在匹配单元输出时钟失配时,比较计数器单元所计的累积误差的生成周期值与预设阈值,当累积误差的生成周期值小于或等于预设阈值时输出被测时钟错误的指示;
或者b.实时比较计数器单元所计的累积误差的生成周期值与预设阈值,当累积误差的生成周期值小于或等于预设阈值时输出被测时钟错误的指示。
7.一种利用权利要求1所述的一种高精度时钟检测方法的检测装置,其特征在于该装置包括第一时钟分频器(101)、第二时钟分频器(102)、第一相位累积装置(103)、第二相位累积装置(104)、匹配单元(105)、计数器单元(105)和错误输出单元(106),一标准时钟通过第一时钟分频器(101)分频后输入至第一相位累积装置(103)内,由该第一时钟分频器(101)输出信号驱动第一相位累积装置(103)运行,一被测时钟通过第二时钟分频器(102)分频后输入至第二相位累积装置(104)内,由该第二时钟分频器(102)输出信号驱动第二相位累积装置(104)运行,所述的第一相位累积装置(103)和第二相位累积装置(104)组成一相位累积单元,所述的第一相位累积装置(103)和第二相位累积装置(104)的数据输出端连接至所述的匹配单元(105)的数据输入端,该匹配单元(105)的一个数据输出端连接于所述的计数器单元(106)的数据输入端,所述匹配单元(105)的另一个数据输出端连接于相位累积单元的初始化输入端,所述的计数器单元(106)输入数据至错误输出单元(107),由该错误输出单元(107)输出被测时钟错误的指示信号。
8.根据权利要求7所述的高精度时钟检测装置,其特征在于所述的相位累积装置为计数器、或为环形移位寄存器。
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