[发明专利]提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制方法无效
| 申请号: | 200710118133.9 | 申请日: | 2007-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN101078105A | 公开(公告)日: | 2007-11-28 |
| 发明(设计)人: | 王健;殷志强;罗毅;齐京;张剑 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
| 主分类号: | C23C14/52 | 分类号: | C23C14/52;C23C14/06;G05B19/04 |
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| 地址: | 100084北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 提高 aln 介质 薄膜 反应 直流 溅射 速率 自动控制 方法 | ||
1、提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制方法,其中溅射靶材采用Al,活性反应气体为N2,在溅射过程中,输入的大部分N2与Al靶表面反应生产AlN,其特征在于,该方法包括以下步骤:
(1)通过控制系统设定反应室的N2分压值PN;
(2)通过控制系统测量只通Ar等离子体起辉时的反应室气压PAr;
(3)通入N2进行反应溅射,基于设定的N2分压调节N2输入流量,当反应室实际气压P>PN+PAr时,认为N2过量,控制器降低N2的输入流量;当反应室气压P<PN+PAr时,认为N2不足,控制器提高N2输入流量。
2、一种基于N2分压控制来提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制系统,其特征在于,该系统依次包括气压设定与读取、气压差比较处理、N2流量控制三个部分,
气压设定和读取部分,在反应溅射之前、溅射过程中设定N2分压PN的数值,并将转换为伪对数的电压信号;同时,气压设定和读取部分预先读取只通非活性气体溅射时的反应室气压PAr,并能自动生成反应室的设定总气压P=PN+PAr,将其转换为伪对数的电压信号;
气压差比较处理部分,对实际气压和设定总气压进行比较,将其转换为N2流量改变所需的电压信号;
N2流量控制部分,采用至少一个响应时间小于10-2秒的N2流量控制器实时控制。
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