[发明专利]提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制方法无效

专利信息
申请号: 200710118133.9 申请日: 2007-06-29
公开(公告)号: CN101078105A 公开(公告)日: 2007-11-28
发明(设计)人: 王健;殷志强;罗毅;齐京;张剑 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: C23C14/52 分类号: C23C14/52;C23C14/06;G05B19/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100084北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 提高 aln 介质 薄膜 反应 直流 溅射 速率 自动控制 方法
【权利要求书】:

1、提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制方法,其中溅射靶材采用Al,活性反应气体为N2,在溅射过程中,输入的大部分N2与Al靶表面反应生产AlN,其特征在于,该方法包括以下步骤:

(1)通过控制系统设定反应室的N2分压值PN

(2)通过控制系统测量只通Ar等离子体起辉时的反应室气压PAr

(3)通入N2进行反应溅射,基于设定的N2分压调节N2输入流量,当反应室实际气压P>PN+PAr时,认为N2过量,控制器降低N2的输入流量;当反应室气压P<PN+PAr时,认为N2不足,控制器提高N2输入流量。

2、一种基于N2分压控制来提高AlN介质薄膜反应直流溅射速率的自动控制系统,其特征在于,该系统依次包括气压设定与读取、气压差比较处理、N2流量控制三个部分,

气压设定和读取部分,在反应溅射之前、溅射过程中设定N2分压PN的数值,并将转换为伪对数的电压信号;同时,气压设定和读取部分预先读取只通非活性气体溅射时的反应室气压PAr,并能自动生成反应室的设定总气压P=PN+PAr,将其转换为伪对数的电压信号;

气压差比较处理部分,对实际气压和设定总气压进行比较,将其转换为N2流量改变所需的电压信号;

N2流量控制部分,采用至少一个响应时间小于10-2秒的N2流量控制器实时控制。

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