[发明专利]在盘上形成区的方法、缺陷管理方法及记录/再现设备有效

专利信息
申请号: 200710104856.3 申请日: 2003-08-11
公开(公告)号: CN101064157A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 高祯完;李坰根 申请(专利权)人: 三星电子株式会社
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司 代理人: 郭鸿禧;韩素云
地址: 韩国京畿道*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 形成 方法 缺陷 管理 记录 再现 设备
【说明书】:

本申请是申请日为2003年8月11日、申请号为03818993.3、题为“具有临时盘定义结构(TDDS)和临时缺陷列表(TDFL)的盘以及用于管理其缺陷的方法和设备”的专利申请的分案申请。 

技术领域

本发明涉及盘缺陷管理,更具体地讲,涉及一种在其中形成临时缺陷管理信息区域和临时管理区域的盘,以及一种用于管理在这种盘中的缺陷的方法和设备。 

背景技术

执行缺陷管理以使得用户将在其中产生缺陷的用户数据区域的一部分的用户数据重写在盘的用户数据区域的新的部分中,从而补偿由缺陷导致的数据丢失。通常,使用线性替换或滑动替换(slipping replacement)方法来执行缺陷管理。在线性替换方法中,在其中产生缺陷的用户数据区域由没有缺陷的备用数据区域替换。在滑动替换方法中,具有缺陷的用户数据区域被滑动以使用没有缺陷的下一个用户数据区域。 

线性替换和滑动替换方法都仅仅可应用到数据可以被重复地记录其上并且可以使用随机访问方法来执行记录的盘,如DVD-RAM/RW。换言之,传统的线性替换和滑动替换方法不可以被应用到在其上记录仅仅被允许一次的一次写入(write-once)盘。通常,通过将数据记录在盘上并且确认数据是否可以被记录在盘上来检查盘中的缺陷的存在。然而,一旦数据被记录在一次写入盘上,则不可能在其中重写新的数据并管理缺陷。 

与此同时,在CD-R和DVD-R的开发以后,具有几十GB的记录容量的高密度一次写入盘已经被引入。由于这种类型的盘不贵并且允许实现快速记录操作的随机访问,所以其可以使用作为备份盘。然而,对一次写入盘不可以进行缺陷管理。因此,由于对一次写入盘的缺陷管理不可以被执行,所以 当在备份操作期间检测到缺陷区域(即,其中产生缺陷的区域)时,备份操作被中止。 

通常,当系统不是被频繁地使用时,备份操作才被执行。因此,备份操作经常在当系统管理员不操作该系统时的夜间被执行。在这种情况下,由于一次写入盘的缺陷区域被检测到,所以很可能备份操作将被停止,并且因此用于该系统的备份操作将不会以可靠的方式来被执行。 

发明内容

本发明提供了一种具有允许缺陷管理的数据结构的一次写入盘和用于管理在如此的盘中的缺陷的方法和设备。 

本发明还提供了一种具有即使在记录操作期间在盘上产生缺陷仍允许缺陷管理的数据结构,从而提供成功的记录操作的一次写入盘,和用于管理在具有缺陷管理的盘中的缺陷的方法和设备。 

将在接下来的描述中部分阐述本发明另外的方面和/或优点,还有一部分通过描述将是清楚的,或者可以经过本发明的实施而得知。 

根据本发明的一方面,该盘包括:缺陷管理区域,在引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中;临时缺陷信息区域,在数据区域中并且在其中记录临时缺陷信息;和临时缺陷管理信息区域,在引入区域和引出区域的至少一个中。 

根据本发明的另一方面,提供了一种管理盘中的缺陷的方法,包括:将关于在记录操作中记录的数据的缺陷信息和关于在先前记录操作中记录的数据的缺陷信息作为第一临时缺陷信息记录在盘的数据区域中;和将第一临时缺陷信息和关于在下一个记录操作中记录的数据的缺陷信息作为第二临时缺陷信息记录在数据区域中。 

根据本发明的另一方面,提供了一种管理盘中的缺陷的方法,包括:将关于根据第一记录操作记录在盘的数据区域中的数据的缺陷信息、关于根据第二记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、......、关于根据第n-1记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息、和关于根据第n记录操作记录在数据区域中的数据的缺陷信息作为第n临时缺陷信息记录在数据区域中;和将用于管理第n临时缺陷信息的缺陷管理信息作为第n临时缺陷管理信息记录在临时缺陷管理信息区域中,其中,n是整数,并且n>1。 

最好,但不必需,该方法还包括在盘的定型期间,将最后记录的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在缺陷管理区域中。 

最好,但不必需,记录第n临时缺陷信息包括:将数据记录在预定单元中;校验记录的数据以检测在其中存在缺陷的盘的区域;将用于指定覆盖具有缺陷和记录在具有缺陷的区域之后的数据的区域的区域指定为缺陷区域的信息存储在存储器中;将数据记录在在缺陷区域之后的预定单元中;重复校验和存储至少一次;和当第n记录操作结束时,从存储器读取该信息,并且将读取的信息记录在数据区域的第n临时缺陷信息区域中。 

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